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講演抄録/キーワード
講演名 2011-05-13 13:30
[招待講演]レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用 ~ 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 ~
二川 清阪大)・山下将嗣理研)・松本 徹浜松ホトニクス)・三浦克介御堂義博中前幸治阪大R2011-8
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) (Not available yet)
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文献情報 信学技報, vol. 111, no. 33, R2011-8, pp. 1-6, 2011年5月.
資料番号 R2011-8 
発行日 2011-05-06 (R) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2011-8

研究会情報
研究会 R  
開催期間 2011-05-13 - 2011-05-13 
開催地(和) 高知市文化プラザ「かるぽーと」 
開催地(英) Kochi City Culture-Plaza Cul-Port 
テーマ(和) LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,および信頼性一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2011-05-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用 
サブタイトル(和) 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 
タイトル(英) The combinational or selective usage of the laser SQUID microscope, the laser terahertz emission microscope, and related simulations 
サブタイトル(英) Non-electrical-contact fault localization in LSI chips 
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 二川 清 / Kiyoshi Nikawa / ニカワ キヨシ
第1著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 山下 将嗣 / Masatsugu Yamashita / ヤマシタ マサツグ
第2著者 所属(和/英) 理化学研究所 (略称: 理研)
RIKEN (略称: RIKEN)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 徹 / Toru Matsumoto / マツモト トウル
第3著者 所属(和/英) 浜松ホトニクス (略称: 浜松ホトニクス)
Hamamatsu Photonics (略称: HPK)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 三浦 克介 / Katsuyoshi Miura / ミウラ カツヨシ
第4著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 御堂 義博 / Yoshihiro Midoh / ミドウ ヨシヒロ
第5著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 中前 幸治 / Koji Nakamae / ナカマエ コウジ
第6著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-05-13 13:30:00 
発表時間 40分 
申込先研究会 R 
資料番号 R2011-8 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.33 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数
発行日 2011-05-06 (R) 


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