| 研究会情報 |
| 研究会 |
R |
| 開催期間 |
2011-05-13 - 2011-05-13 |
| 開催地(和) |
高知市文化プラザ「かるぽーと」 |
| 開催地(英) |
Kochi City Culture-Plaza Cul-Port |
| テーマ(和) |
LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,および信頼性一般 |
| テーマ(英) |
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| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
R |
| 会議コード |
2011-05-R |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用 |
| サブタイトル(和) |
電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 |
| タイトル(英) |
The combinational or selective usage of the laser SQUID microscope, the laser terahertz emission microscope, and related simulations |
| サブタイトル(英) |
Non-electrical-contact fault localization in LSI chips |
| キーワード(1)(和/英) |
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| キーワード(2)(和/英) |
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| キーワード(3)(和/英) |
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| キーワード(4)(和/英) |
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| キーワード(6)(和/英) |
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| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
二川 清 / Kiyoshi Nikawa / ニカワ キヨシ |
| 第1著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山下 将嗣 / Masatsugu Yamashita / ヤマシタ マサツグ |
| 第2著者 所属(和/英) |
理化学研究所 (略称: 理研)
RIKEN (略称: RIKEN) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
松本 徹 / Toru Matsumoto / マツモト トウル |
| 第3著者 所属(和/英) |
浜松ホトニクス (略称: 浜松ホトニクス)
Hamamatsu Photonics (略称: HPK) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
三浦 克介 / Katsuyoshi Miura / ミウラ カツヨシ |
| 第4著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
御堂 義博 / Yoshihiro Midoh / ミドウ ヨシヒロ |
| 第5著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
| 第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
中前 幸治 / Koji Nakamae / ナカマエ コウジ |
| 第6著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
| 第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第28著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第29著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第30著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第31著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第32著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第34著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第35著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第36著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2011-05-13 13:30:00 |
| 発表時間 |
40分 |
| 申込先研究会 |
R |
| 資料番号 |
R2011-8 |
| 巻番号(vol) |
vol.111 |
| 号番号(no) |
no.33 |
| ページ範囲 |
pp.1-6 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2011-05-06 (R) |