研究会情報 |
研究会 |
R |
開催期間 |
2011-05-13 - 2011-05-13 |
開催地(和) |
高知市文化プラザ「かるぽーと」 |
開催地(英) |
Kochi City Culture-Plaza Cul-Port |
テーマ(和) |
LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,および信頼性一般 |
テーマ(英) |
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講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
R |
会議コード |
2011-05-R |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用 |
サブタイトル(和) |
電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 |
タイトル(英) |
The combinational or selective usage of the laser SQUID microscope, the laser terahertz emission microscope, and related simulations |
サブタイトル(英) |
Non-electrical-contact fault localization in LSI chips |
キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(2)(和/英) |
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キーワード(3)(和/英) |
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キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
二川 清 / Kiyoshi Nikawa / ニカワ キヨシ |
第1著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山下 将嗣 / Masatsugu Yamashita / ヤマシタ マサツグ |
第2著者 所属(和/英) |
理化学研究所 (略称: 理研)
RIKEN (略称: RIKEN) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
松本 徹 / Toru Matsumoto / マツモト トウル |
第3著者 所属(和/英) |
浜松ホトニクス (略称: 浜松ホトニクス)
Hamamatsu Photonics (略称: HPK) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
三浦 克介 / Katsuyoshi Miura / ミウラ カツヨシ |
第4著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
御堂 義博 / Yoshihiro Midoh / ミドウ ヨシヒロ |
第5著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
中前 幸治 / Koji Nakamae / ナカマエ コウジ |
第6著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第7著者 所属(和/英) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 所属(和/英) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 所属(和/英) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2011-05-13 13:30:00 |
発表時間 |
40分 |
申込先研究会 |
R |
資料番号 |
R2011-8 |
巻番号(vol) |
vol.111 |
号番号(no) |
no.33 |
ページ範囲 |
pp.1-6 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2011-05-06 (R) |