講演抄録/キーワード |
講演名 |
2011-05-19 13:50
Si基板上光閉じ込め構造に向けたAlGaPN混晶の分子線エピタキシー成長 ○熊谷啓助・小路耕平・河合 剛・山根啓輔・関口寛人・岡田 浩・若原昭浩(豊橋技科大) ED2011-10 CPM2011-17 SDM2011-23 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2011-10 CPM2011-17 SDM2011-23 |
抄録 |
(和) |
格子整合系III-V-N/Siの発光素子構造において、Siと格子整合した低屈折率混晶があれば光閉じ込め構造作製に応用できる。そこでSi格子整合系の低屈折率混晶としてAlGaPN混晶の成長条件確立を目指し、N組成の成長温度依存性とAl組成依存性に関する知見を得た。また反射スペクトルよりAlGaPN混晶の屈折率を明らかにし、AlGaPN/GaPNの光閉じ込め構造の設計と分布ブラッグ反射鏡の試作を行った。 |
(英) |
An AlP-based dilute nitride is one of the candidates for the cladding layer of laser structure in a Si-based optoelectronic integrated circuits (OEIC). In order to design the optical confinement structure, growth properties and optical constants of AlGaPN have been investigated. Nitrogen incorporation efficiency is increased by adding Al contents, but shows small effect of the growth temperatures. A high quality AlGaPN which can be lattice matched to Si obtained at the growth temperature of 600 °C. The refractive indexes of AlGaPN with the N concentration of a few % are almost the same an AlGaP. Finally AlPN/GaPN DBR is fabricated. |
キーワード |
(和) |
光電子集積回路 / III-V-N混晶 / GaPN / AlPN / 光閉じ込め構造 / 半導体分布ブラッグ反射鏡 / / |
(英) |
OEIC / III-V-N alloys / GaPN / AlPN / Optical confinement structure / DBR / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 44, ED2011-10, pp. 49-54, 2011年5月. |
資料番号 |
ED2011-10 |
発行日 |
2011-05-12 (ED, CPM, SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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