| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-06-24 14:40 ［招待講演］国際会議報告：VTS2011(29th IEEE VLSI Test Symposium) ○畠山一実（奈良先端大）  DC2011-11 |
|
| 抄録 | （和） | 2011年5月に米国カリフォルニア州デイナポイントで開催された第29回VLSIテストシンポジウム(VTS2011)について報告する．VTSの沿革とVTS2011の概要を紹介したのち，論文発表の動向を提示する．また，基調講演や招待講演について概説するとともに，シリコンデバッグ関連，オンチップセンサ利用，低電力テスト，テスト容易化の各分野での注目された発表について詳述する． |
| （英） | This talk provide a report of VTS2011 (29th IEEE VLSI Test Symposium), which was held in Dana Point, California, USA, in May, 2011. After showing the outline of VTS and VTS2011, the trend of paper topic area is given. Then the summaries of keynote speech and invited talks are followed by detailed reports on noticeable papers in the areas of silicon debug, utilization of on-chip sensors, low power test and design for testability. | |
| キーワード | （和） | シリコンデバッグ / オンチップセンサ / 低電力テスト / テスト容易化 / / / / |
| （英） | silicon debug / on-chip sensor / low power test / design for testability / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 100, DC2011-11, pp. 17-22, 2011年6月. | |
| 資料番号 | DC2011-11 | |
| 発行日 | 2011-06-17 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| 査読に ついて |
本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります． | |
| PDFダウンロード | DC2011-11 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2011-06-24 - 2011-06-24 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2011-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 国際会議報告：VTS2011(29th IEEE VLSI Test Symposium) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | International Conference Report - VTS2011(29th IEEE VLSI Test Symposium) |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | シリコンデバッグ / silicon debug |
| キーワード(2)（和/英） | オンチップセンサ / on-chip sensor |
| キーワード(3)（和/英） | 低電力テスト / low power test |
| キーワード(4)（和/英） | テスト容易化 / design for testability |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 畠山 一実 / Kazumi Hatayama / ハタヤマ カズミ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-06-24 14:40:00 |
| 発表時間 | 60分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2011-11 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.100 |
| ページ範囲 | pp.17-22 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-06-17 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]