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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-06-24 13:00 ランダムパターンテストにおける故障検出率分布に関する考察 福本 聡・○新井雅之・原 慎哉・岩崎一彦（首都大東京）  DC2011-8 |
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| 抄録 | （和） | 本稿では，ランダムパターンテストにおける故障検出率の分布について解析する． 各故障に関する検出と未検出の事象を，それぞれ 1 と 0 に写像する確率変数を導入する．この確率変数を基に評価モデルを構築し，解析結果から故障検出率分布の正確な期待値と分散を算出できることを数値的に示す． |
| （英） | In this paper, we analyze the distribution of fault coverage in random-pattern testing. We introduce a stochastic variable that maps the events of detection and non-detection of each fault in a random-pattern testing into the integers 1 and 0 respectively. Based on this variable, we establish a stochastic evaluation model and numerically show that mean and variance of fault coverage distribution can be estimated precisely from the anaytical results. | |
| キーワード | （和） | 故障検出率 / ランダムパターンテスト / 確率モデル / / / / / |
| （英） | fault coverage / ramdom-pattern testing / stochastic model / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 100, DC2011-8, pp. 1-4, 2011年6月. | |
| 資料番号 | DC2011-8 | |
| 発行日 | 2011-06-17 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| 査読に ついて |
本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります． | |
| PDFダウンロード | DC2011-8 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2011-06-24 - 2011-06-24 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2011-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ランダムパターンテストにおける故障検出率分布に関する考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Approach and Evaluation of Fault Tolerant Sequential Circuits for Simultaneous Occurrence of Multiple Transient Faults |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障検出率 / fault coverage |
| キーワード(2)（和/英） | ランダムパターンテスト / ramdom-pattern testing |
| キーワード(3)（和/英） | 確率モデル / stochastic model |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 福本 聡 / Satoshi Fukumoto / フクモト サトシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： TMU) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： TMU) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 原 慎哉 / Shinya Hara / ハラ シンヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 首都大学東京大学院 (略称： 首都大東京) Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University (略称： TMU) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩崎 一彦 / Kazuhiko Iwasaki / イワサキ カズヒコ |
| 第4著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： TMU) |
| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2011-06-24 13:00:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2011-8 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.100 |
| ページ範囲 | pp.1-4 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2011-06-17 (DC) |
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