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講演抄録/キーワード
講演名 2011-07-21 11:45
RF-CMOS技術を用いたラジカルセンサLSIの開発 ~ ESR検出回路の感度解析 ~
木村俊介秋田純一北川章夫金沢大ICD2011-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2011-24
抄録 (和) 近年,がんのメカニズム解明や,見えない体調変化の検出等,医療・ヘルスケア分野への応用として活性酸素等ラジカルの測定が注目されている.ラジカル測定法の一つとして,電子スピン共鳴(ESR:Electron Spin Resonance)法が用いられている.従来のESR装置は,装置が複雑・大型で,微量測定が行えないという問題があった.そこで,本稿では,小型で極微量測定が可能なラジカルセンサ実現のために,CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)技術を用いたESR検出回路を提案した.シミュレーションによりスピン検出感度を求めた.これにより,従来技術よりも小型かつ極微量な試料で測定できる可能性を示した. 
(英) The detecting circuit of Electron Spin Resonance (ESR) for radical sensing and the detection sensitivity analysis of ESR signal are presented. The circuit is composed of probe-inductor for ESR measurement and cascode Low Noise Amplifier (LNA) which improves the detection sensitivity of ESR signal. ESR signal is obtained as a spectrum of the gain variation of the LNA as a function of the DC magnetic flux. As the result of circuit simulation, the detection sensitivity of ESR signal by the designed circuit is estimated at 90×10-3fV/spin@RFin=-50dBm. It is possible to detect radicals included in a very small amount of sample with the proposed circuit which contributed to downsizing the ESR measurement system.
キーワード (和) ラジカル / 電子スピン / RF-CMOS / / / / /  
(英) radical / Electron Spin Resonance / RF-CMOS / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 151, ICD2011-24, pp. 31-35, 2011年7月.
資料番号 ICD2011-24 
発行日 2011-07-14 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ICD2011-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2011-24

研究会情報
研究会 ICD ITE-IST  
開催期間 2011-07-21 - 2011-07-22 
開催地(和) 広島工業大学 
開催地(英) Hiroshima Institute of Technology 
テーマ(和) アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路 
テーマ(英) Analog, Mixed analog and digital, RF, and sensor interface circuitry 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2011-07-ICD-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) RF-CMOS技術を用いたラジカルセンサLSIの開発 
サブタイトル(和) ESR検出回路の感度解析 
タイトル(英) Design of Radical Sensor LSI with RF-CMOS Technology 
サブタイトル(英) Sensitivity Analysis of the Detecting Circuit of ESR 
キーワード(1)(和/英) ラジカル / radical  
キーワード(2)(和/英) 電子スピン / Electron Spin Resonance  
キーワード(3)(和/英) RF-CMOS / RF-CMOS  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 木村 俊介 / Shunsuke Kimura / キムラ シュンスケ
第1著者 所属(和/英) 金沢大学 (略称: 金沢大)
Kanazawa University (略称: Kanazawa Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 秋田 純一 / Junichi Akita / アキタ ジュンイチ
第2著者 所属(和/英) 金沢大学 (略称: 金沢大)
Kanazawa University (略称: Kanazawa Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 北川 章夫 / Akio Kitagawa / キタガワ アキオ
第3著者 所属(和/英) 金沢大学 (略称: 金沢大)
Kanazawa University (略称: Kanazawa Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-07-21 11:45:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 ICD2011-24 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.151 
ページ範囲 pp.31-35 
ページ数
発行日 2011-07-14 (ICD) 


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