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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-07-21 11:45 RF-CMOS技術を用いたラジカルセンサLSIの開発 ～ ESR検出回路の感度解析 ～ ○木村俊介・秋田純一・北川章夫（金沢大）  ICD2011-24 |
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| 抄録 | （和） | 近年，がんのメカニズム解明や，見えない体調変化の検出等，医療・ヘルスケア分野への応用として活性酸素等ラジカルの測定が注目されている．ラジカル測定法の一つとして，電子スピン共鳴(ESR:Electron Spin Resonance)法が用いられている．従来のESR装置は，装置が複雑・大型で，微量測定が行えないという問題があった．そこで，本稿では，小型で極微量測定が可能なラジカルセンサ実現のために，CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)技術を用いたESR検出回路を提案した．シミュレーションによりスピン検出感度を求めた．これにより，従来技術よりも小型かつ極微量な試料で測定できる可能性を示した． |
| （英） | The detecting circuit of Electron Spin Resonance (ESR) for radical sensing and the detection sensitivity analysis of ESR signal are presented. The circuit is composed of probe-inductor for ESR measurement and cascode Low Noise Amplifier (LNA) which improves the detection sensitivity of ESR signal. ESR signal is obtained as a spectrum of the gain variation of the LNA as a function of the DC magnetic flux. As the result of circuit simulation, the detection sensitivity of ESR signal by the designed circuit is estimated at 90×10-3fV/spin@RFin=-50dBm. It is possible to detect radicals included in a very small amount of sample with the proposed circuit which contributed to downsizing the ESR measurement system. | |
| キーワード | （和） | ラジカル / 電子スピン / RF-CMOS / / / / / |
| （英） | radical / Electron Spin Resonance / RF-CMOS / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 151, ICD2011-24, pp. 31-35, 2011年7月. | |
| 資料番号 | ICD2011-24 | |
| 発行日 | 2011-07-14 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2011-24 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD ITE-IST |
| 開催期間 | 2011-07-21 - 2011-07-22 |
| 開催地（和） | 広島工業大学 |
| 開催地（英） | Hiroshima Institute of Technology |
| テーマ（和） | アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路 |
| テーマ（英） | Analog, Mixed analog and digital, RF, and sensor interface circuitry |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2011-07-ICD-IST |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | RF-CMOS技術を用いたラジカルセンサLSIの開発 |
| サブタイトル（和） | ESR検出回路の感度解析 |
| タイトル（英） | Design of Radical Sensor LSI with RF-CMOS Technology |
| サブタイトル（英） | Sensitivity Analysis of the Detecting Circuit of ESR |
| キーワード(1)（和/英） | ラジカル / radical |
| キーワード(2)（和/英） | 電子スピン / Electron Spin Resonance |
| キーワード(3)（和/英） | RF-CMOS / RF-CMOS |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 木村 俊介 / Shunsuke Kimura / キムラ シュンスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 金沢大学 (略称： 金沢大) Kanazawa University (略称： Kanazawa Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 秋田 純一 / Junichi Akita / アキタ ジュンイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 金沢大学 (略称： 金沢大) Kanazawa University (略称： Kanazawa Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 北川 章夫 / Akio Kitagawa / キタガワ アキオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 金沢大学 (略称： 金沢大) Kanazawa University (略称： Kanazawa Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-07-21 11:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2011-24 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.151 |
| ページ範囲 | pp.31-35 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2011-07-14 (ICD) |
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