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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-10-20 11:30 高電磁環境下における過渡故障に耐性を持つ順序回路方式の検討 ○サイサナソンカム アロムハック・今井健太・小山善史・新井雅之・福本 聡（首都大東京）  DC2011-21 |
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| 抄録 | （和） | 近年，電力変換回路の小型化や高密度化の研究が進んでいる．それに伴って，制御回路やゲート駆動回路などの周辺回路と大電流の主回路とが著しく接近して実装されるようになった．そのため，パルス大電流部分の近傍に発生する電磁放射が，制御回路や周辺回路に大規模な過渡故障を起こす可能性が増大している．本研究では，DC-ACインバータによって引き起こされる電磁放射を原因とする過渡故障に耐性を持つ順序回路方式を提案する．提案アーキテクチャは，BIST (Built-in Self Test) 回路を繰り返し動作させることで過渡故障の継続期間を計測し，通常動作時に発生する過渡故障の影響を回避するために，クロック信号を適切に無効化する． |
| （英） | Recently, research on miniaturizing and densifying the power converter circuit are showing significant progressions. Consequently, control circuit and gate driver circuit are getting extremely close to the high current main circuit. Thus the electro-magnetic radiation generated nearby the high current pulse may affect the control circuit and the neighboring circuits as transient faults. In this paper we propose a fault-tolerant sequential circuit, which can tolerate periodic transient faults due to electromagnetic radiation caused by DC-AC inverters. The proposed circuit repeatedly applies functional BIST to measure the duration of a transient fault, and then appropriately negates clock signals during normal operation to avoid the effects of the faults. | |
| キーワード | （和） | 耐過渡故障回路 / オンラインBIST / 電磁放射 / DC-ACインバータ / / / / |
| （英） | transient fault tolerant circuit / on-line functional BIST / electromagnetic radiation / DC-AC inverter / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 252, DC2011-21, pp. 7-11, 2011年10月. | |
| 資料番号 | DC2011-21 | |
| 発行日 | 2011-10-13 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2011-21 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2011-10-20 - 2011-10-20 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | ネットワーク環境でのディペンダビリティ、および一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2011-10-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 高電磁環境下における過渡故障に耐性を持つ順序回路方式の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on Sequential Circuits Tolerating for Transient Faults in a Highly Electromagnetic Environment |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 耐過渡故障回路 / transient fault tolerant circuit |
| キーワード(2)（和/英） | オンラインBIST / on-line functional BIST |
| キーワード(3)（和/英） | 電磁放射 / electromagnetic radiation |
| キーワード(4)（和/英） | DC-ACインバータ / DC-AC inverter |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | サイサナソンカム アロムハック / Aromhack Saysanasongkham / サイサナソンカム アロムハック |
| 第1著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 今井 健太 / Kenta Imai / イマイ ケンタ |
| 第2著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小山 善史 / Yoshifumi Koyama / コヤマ ヨシフミ |
| 第3著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 福本 聡 / Satoshi Fukumoto / フクモト サトシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-10-20 11:30:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2011-21 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.252 |
| ページ範囲 | pp.7-11 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2011-10-13 (DC) |
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