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講演抄録/キーワード
講演名
2011-11-10 14:40
[招待講演]STMによるキャリア分布測定のデバイスシミュレーション
○
福田浩一
・
西澤正泰
・
多田哲也
(
産総研
)・
Leonid Bolotov
(
筑波大
)・
鈴木 腕
・
佐藤成生
(
富士通セミコンダクター
)・
有本 宏
・
金山敏彦
(
産総研
)
SDM2011-119
エレソ技報アーカイブへのリンク:
SDM2011-119
抄録
(和)
(まだ登録されていません)
(英)
(Not available yet)
キーワード
(和)
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(英)
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文献情報
信学技報, vol. 111, no. 281, SDM2011-119, pp. 21-26, 2011年11月.
資料番号
SDM2011-119
発行日
2011-11-03 (SDM)
ISSN
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
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SDM2011-119
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SDM2011-119
研究会情報
研究会
SDM
開催期間
2011-11-10 - 2011-11-11
開催地(和)
機械振興会館
開催地(英)
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg.
テーマ(和)
プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般
テーマ(英)
Process, Device, Circuit Simulations, etc
講演論文情報の詳細
申込み研究会
SDM
会議コード
2011-11-SDM
本文の言語
日本語
タイトル(和)
STMによるキャリア分布測定のデバイスシミュレーション
サブタイトル(和)
タイトル(英)
Device Simulation of STM Carrier Profiling
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英)
/
キーワード(2)(和/英)
/
キーワード(3)(和/英)
/
キーワード(4)(和/英)
/
キーワード(5)(和/英)
/
キーワード(6)(和/英)
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キーワード(7)(和/英)
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キーワード(8)(和/英)
/
第1著者 氏名(和/英/ヨミ)
福田 浩一
/
Koichi Fukuda
/
フクダ コウイチ
第1著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ)
西澤 正泰
/
Masayasu Nishizawa
/
ニシザワ マサヤス
第2著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ)
多田 哲也
/
Tetsuya Tada
/
タダ テツヤ
第3著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ)
Leonid Bolotov
/
Leonid Bolotov
/
第4著者 所属(和/英)
筑波大学
(略称:
筑波大
)
Tsukuba University
(略称:
Tsukuba Univ.
)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ)
鈴木 腕
/
Kaina Suzuki
/
スズキ カイナ
第5著者 所属(和/英)
富士通セミコンダクター
(略称:
富士通セミコンダクター
)
Fujitsu Semiconductor Ltd.
(略称:
Fujitsu Semiconductor
)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ)
佐藤 成生
/
Shigeo Sato
/
サトウ シゲオ
第6著者 所属(和/英)
富士通セミコンダクター
(略称:
富士通セミコンダクター
)
Fujitsu Semiconductor Ltd.
(略称:
Fujitsu Semiconductor
)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ)
有本 宏
/
Hiroshi Arimoto
/
アリモト ヒロシ
第7著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ)
金山 敏彦
/
Toshihiko Kanayama
/
第8著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第9著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第10著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第11著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第12著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第13著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第14著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第15著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第16著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第17著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第18著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第19著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第20著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
講演者
第1著者
発表日時
2011-11-10 14:40:00
発表時間
50分
申込先研究会
SDM
資料番号
SDM2011-119
巻番号(vol)
vol.111
号番号(no)
no.281
ページ範囲
pp.21-26
ページ数
6
発行日
2011-11-03 (SDM)
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