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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-11-18 08:45 Current Density Analysis in Contact Area by Using Light Emission Diode Wafer ○Shigeru Sawada・Shigeki Tsukiji（Mie Univ.）・Terutaka Tamai（ElconTech Consulting）・Yasuhiro Hattori（Autonetworks Lab.）  EMD2011-88 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | In order to clarify the theory of contact resistance, there are many reports in these years. Mathematically the constriction current is derived from Laplace equation at one contact which shape is circle, ellipse, triangle and square. And numerical approach for constriction current analysis was also preformed by Minowa and Sawada. Although there are many reports on the contact resistance measurement, not many reports on the detailed behavior of current density distribution in the contact area experimentally. Therefore, we attempted to observe the behavior of the current density distribution in the contact by using semiconductor wafers. As a result, it was confirmed that electric current is uniformly distributed over the contact area covered by an oxide film, while it is concentrated at the periphery of the contact if there is no oxide film at contact. And the contact resistance of apparent contact area is almost same as real contact area which is also agree with the theory of multi-spot contact when the number of A-spot is large enough. |
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| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | Constriction Resistance / Electrical Contact / Contact resistance / Current constriction / light emitting diode / Direct observation / Current density distribution / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 299, EMD2011-88, pp. 115-119, 2011年11月. | |
| 資料番号 | EMD2011-88 | |
| 発行日 | 2011-11-10 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2011-88 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2011-11-17 - 2011-11-18 |
| 開催地（和） | 秋田大学 手形キャンパス |
| 開催地（英） | Akita Univ. Tegata Campus |
| テーマ（和） | 国際セッションIS-EMD2011 |
| テーマ（英） | International Session IS-EMD2011 |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2011-11-EMD |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Current Density Analysis in Contact Area by Using Light Emission Diode Wafer |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Constriction Resistance |
| キーワード(2)（和/英） | / Electrical Contact |
| キーワード(3)（和/英） | / Contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | / Current constriction |
| キーワード(5)（和/英） | / light emitting diode |
| キーワード(6)（和/英） | / Direct observation |
| キーワード(7)（和/英） | / Current density distribution |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤田 滋 / Shigeru Sawada / サワダ シゲル |
| 第1著者 所属（和/英） | 三重大学 (略称： 三重大) Mie university (略称： Mie Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 筑地 茂樹 / Shigeki Tsukiji / ツキジ シゲキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 三重大学 (略称： 三重大) Mie university (略称： Mie Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 玉井 輝雄 / Terutaka Tamai / タマイ テルタカ |
| 第3著者 所属（和/英） | エルテックコンサルティング (略称： エルコンテック) ElconTech Consulting Inc (略称： ElconTech Consulting) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori / ハットリ ヤスヒロ |
| 第4著者 所属（和/英） | オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) Autonetworks Lab. (略称： Autonetworks Lab.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-11-18 08:45:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2011-88 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.299 |
| ページ範囲 | pp.115-119 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2011-11-10 (EMD) |
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