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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-11-30 10:05 マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減 山口久登・○松薗 誠・宮瀬紘平・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST）  VLD2011-83 DC2011-59 |
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| 抄録 | （和） | 組込み自己テスト（BIST）では，テスト時の消費電力が通常動作時より多いため，電圧降下による誤動作や，発熱による性能劣化を引き起こす問題がある．著者らは，スキャンテストあるいはスキャンベースBISTにおいてキャプチャ時に複数のクロックを発生し，各クロックにおいて一部のFF値を観測することでテスト効率を向上させる手法を提案しているが，本論文では，この構造のもとでキャプチャ時の消費電力を故障検出率の低下なしに低減する手法を提案する． |
| （英） | Power consumption during Built-In Self-Test(BIST) is far larger than that of normal operation. Therefore, it may lead to a malfunction due to excessive voltage droop or performance deterioration due to high heating. The authors have proposed a multi-cycle test method that generates more than two capture clock to e improve test efficiency. This paper proposes a novel technique that reduces the power consumption during capture mode without test coverage loss using the multi-cycle test method. | |
| キーワード | （和） | スキャンテスト / BIST / マルチサイクルテスト / キャプチャ時消費電力 / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 325, DC2011-59, pp. 179-183, 2011年11月. | |
| 資料番号 | DC2011-59 | |
| 発行日 | 2011-11-21 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2011-83 DC2011-59 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2011-11-28 - 2011-11-30 |
| 開催地（和） | ニューウェルシティ宮崎 |
| 開催地（英） | NewWelCity Miyazaki |
| テーマ（和） | デザインガイア2011 -VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2011-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Capture power reduction in multi-cycle test structure |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | スキャンテスト / |
| キーワード(2)（和/英） | BIST / |
| キーワード(3)（和/英） | マルチサイクルテスト / |
| キーワード(4)（和/英） | キャプチャ時消費電力 / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山口 久登 / Hisato Yamaguchi / ヤマグチ ヒサト |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松薗 誠 / Makoto Matsuzono / マツゾノ マコト |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2011-11-30 10:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2011-83, DC2011-59 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.324(VLD), no.325(DC) |
| ページ範囲 | pp.179-183 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2011-11-21 (VLD, DC) |
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