お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2011-11-30 11:20
トランジェントグリッチエネルギーを低減するパワーゲーティングの回路方式の検討
太田雄也工藤 優宇佐美公良芝浦工大VLD2011-90 DC2011-66
抄録 (和) 論理セル単位でパワーゲーティング(Power Gating,以下PG)を行う細粒度PGでは、スリープ状態への移行時と復帰時に消費するエネルギーオーバーヘッドが問題となる。特に復帰時に発生するトランジェントグリッチによるエネルギーが、全体のエネルギーオーバーヘッドに占める割合が大きいことが知見として得られている。そこで本論文ではトランジェントグリッチエネルギーを低減するPG回路方式を提案し、細粒度PGによるリーク電力削減効果の向上を図る。
回路シミュレーションを実行する上でe-Shuttle社の65nmプロセスのセルライブラリを使用し、PGによるエネルギー削減効果が現れるスリープサイクル数(Break Even Cycle,以下BEC)を検出することで、評価を行った。
温度25℃で解析した結果、全てのセルにGND側のPSに適用した場合と提案方式を適用した場合を比較して、BECがALUでは約31%、乗算器では約39%減少していることが分かった。この結果から、本提案方式を適用すると、スリープ期間が短い場合でもPGによるエネルギー削減効果が得られることが明らかとなった。 
(英) In fine-grain power gating which performs cell-by-cell power gating (PG) , energy overhead consumed at sleep-in and sleep-out becomes a problem. It has been reported that energy consumption due to transient-glitch which occurs at the sleep-out occupies the large share in the whole energy dissipation. This paper proposes a novel PG circuit scheme to reduce transient-glitch energy.
Reduction of transient-glitch energy leads to shortening the Break Even Cycle (BEC) which is the minimum idle cycles required to get energy saving in fine-grain PG. We evaluated BEC by applying the proposed scheme.
Circuit simulations were performed using the cell library of the e-Shuttle 65nm process technology.
Results have demonstrated the BEC is reduced by 31% in ALU and by 39% in Multiplier at 25 degrees C by applying our scheme. Reduction in BEC gives the benefit that energy reduction can be obtained at shorter idle cycles.
キーワード (和) 細粒度パワーゲーティング / トランジェントグリッチ / 回路方式 / MTCMOS技術 / / / /  
(英) Fine Grain Power Gating / Transient Glitch / Circuit Scheme / MTCMOS Circuits / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 324, VLD2011-90, pp. 221-226, 2011年11月.
資料番号 VLD2011-90 
発行日 2011-11-21 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2011-90 DC2011-66

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2011-11-28 - 2011-11-30 
開催地(和) ニューウェルシティ宮崎 
開催地(英) NewWelCity Miyazaki 
テーマ(和) デザインガイア2011 -VLSI設計の新しい大地― 
テーマ(英) Design Gaia 2010 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2011-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) トランジェントグリッチエネルギーを低減するパワーゲーティングの回路方式の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Power-Gating Circuit Scheme for Transient-Glitch Energy Reduction 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 細粒度パワーゲーティング / Fine Grain Power Gating  
キーワード(2)(和/英) トランジェントグリッチ / Transient Glitch  
キーワード(3)(和/英) 回路方式 / Circuit Scheme  
キーワード(4)(和/英) MTCMOS技術 / MTCMOS Circuits  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 太田 雄也 / Yuya Ohta / オオタ ユウヤ
第1著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: Shibaura Institute of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 工藤 優 / Masaru Kudo / クドウ マサル
第2著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: Shibaura Institute of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 宇佐美 公良 / Kimiyoshi Usami / ウサミ キミヨシ
第3著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: Shibaura Institute of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2011-11-30 11:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2011-90, DC2011-66 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.324(VLD), no.325(DC) 
ページ範囲 pp.221-226 
ページ数
発行日 2011-11-21 (VLD, DC) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会