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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-02-13 11:05 パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法 ○田中広彬・宮瀬紘平・榎元和成・温 暁青・梶原誠司（九工大）  DC2011-78 |
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| 抄録 | （和） | LSIの信号値伝搬が遅延する欠陥を検出するために，遅延テストが広く用いられている．本稿では，遷移遅延故障テストにおけるパス遅延故障の検出能力を向上させ，網羅的かつ高品質な遅延故障テストを実現する．ITC’99ベンチマーク回路に対する実験では，遷移遅延故障テストによって遷移遅延故障に加えて多くのパス遅延故障が検出できることを示す． |
| （英） | In this paper, we present to generate a test vector set to detect both transition and path delay faults. The proposed method detects the most path delay faults possible via transition delay tests without test data inflation. Experimental results for ITC’99 benchmark circuits demonstrate that the proposed method can detect many path delay faults in addition to transition delay faults with transition delay tests. | |
| キーワード | （和） | 遷移遅延故障 / パス遅延故障 / X割当 / X判定 / テスト生成 / / / |
| （英） | transition delay fault / path delay fault / X-filling / X-identification / test generation / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 435, DC2011-78, pp. 13-18, 2012年2月. | |
| 資料番号 | DC2011-78 | |
| 発行日 | 2012-02-06 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2011-78 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2012-02-13 - 2012-02-13 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Pattern Merging for Additional Path Delay Fault Detection with Transition Delay Fault Test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遷移遅延故障 / transition delay fault |
| キーワード(2)（和/英） | パス遅延故障 / path delay fault |
| キーワード(3)（和/英） | X割当 / X-filling |
| キーワード(4)（和/英） | X判定 / X-identification |
| キーワード(5)（和/英） | テスト生成 / test generation |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田中 広彬 / Hiroaki Tanaka / タナカ ヒロアキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 榎元 和成 / Kazunari Enokimoto / エノキモト カズナリ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-02-13 11:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2011-78 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.435 |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-02-06 (DC) |
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