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講演抄録/キーワード
講演名 2012-02-13 16:20
フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司宮瀬紘平九工大/JST)・三浦幸也首都大東京/JSTDC2011-86
抄録 (和) VLSIの高機能化や高性能化,製造プロセスの微細化に伴い,劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し,障害発生による突然のシステムダウンを回避することが重要になっている.劣化現象として回路遅延の増加が知られているが,フィールドテストでの遅延測定では,VLSIの温度や電圧等の環境要因による遅延への影響を考慮する必要がある.本論文では,フィールドテスト時に温度・電圧を測定,環境要因の影響を排除した高精度な遅延測定を実現するため,リングオシレータを核とする温度・電圧推定回路の試作と,試作した温度・電圧推定回路から得られる温度・電圧変化特性の測定および評価に関する関して述べる. 
(英) High dependability is required for an embedded system VLSI. High functionality and high performance of VLSI, due to the miniaturization of the manufacturing process, increase a performance deterioration caused by various aging mechanisms of VLSI circuits. Therefore, it is important to avoid a system down due to a sudden failure of VLSI due to an aging. The increase of a circuit delay is known as a typical aging phenomenon of a VLSI. However, the delay measurement for detecting aging on field needs to take account of the influence of thermal and voltage fluctuations. In this paper, for achieving highly accurate delay measurements that eliminate the effects of environmental factors, we show the test-chip design and evaluations of the thermal and voltage monitors, which consist of dedicated Ring-Oscillators, and discuss the estimation accuracy of temperature and voltage.
キーワード (和) 劣化 / フィールドテスト / 温度・電圧モニタ / リングオシレータ / / / /  
(英) Aging / Field test / thermal and Voltage monitor / Ring Oscillator / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 435, DC2011-86, pp. 61-66, 2012年2月.
資料番号 DC2011-86 
発行日 2012-02-06 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2011-86

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2012-02-13 - 2012-02-13 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2012-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Evaluation of a thermal and voltage estimation circuit for field test 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 劣化 / Aging  
キーワード(2)(和/英) フィールドテスト / Field test  
キーワード(3)(和/英) 温度・電圧モニタ / thermal and Voltage monitor  
キーワード(4)(和/英) リングオシレータ / Ring Oscillator  
キーワード(5)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 三宅 庸資 / Yousuke Miyake / ミヤケ ヨウスケ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大/JST)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大/JST)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大/JST)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大/JST)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 三浦 幸也 / Yukiya Miura / ミウラ ユキヤ
第5著者 所属(和/英) 首都大学東京 (略称: 首都大東京/JST)
Tokyo Metropolitan University (略称: TMU)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-02-13 16:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2011-86 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.435 
ページ範囲 pp.61-66 
ページ数
発行日 2012-02-06 (DC) 


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