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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-06-15 13:15 LSI構造解析によるトラブル未然防止に関する研究 ～ 発電プラント用電子部品の信頼性向上に向けた取り組み ～ ○村上和也・角本雄一（東芝）  R2012-11 |
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| 抄録 | （和） | 産業用製品に適用する電子部品は高信頼性が求められる．しかしながら，電子部品の高機能・高性能化，多様化にともない，従来の信頼性試験が困難になり評価に時間がかかっていた．部品調達のグローバル化で海外品が増加し，開発期間も短縮していることから短期間で評価する必要がある．本報告では，電子部品の信頼性向上に向けた取り組みについて，LSIの構造解析による診断事例を報告する． |
| （英） | Electronic components to be applied to industrial products, it is necessary to be highly reliable. However, since the high-functionality, high-performance and diverse electronic components, it took some time to test reliability. Procurement of electronic components, foreign products have increased. We need to evaluate in a short period of time. In this report, we introduce a case analysis on the structure of the LSI to improve the reliability of electronic components. | |
| キーワード | （和） | LSI / 信頼性試験 / 構造解析 / 良品解析 / / / / |
| （英） | LSI / The reliability test / The structural analysis / The article of good quality analysis / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 82, R2012-11, pp. 1-5, 2012年6月. | |
| 資料番号 | R2012-11 | |
| 発行日 | 2012-06-08 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2012-11 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2012-06-15 - 2012-06-15 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 電子・電気機器の信頼性，故障解析，劣化診断，信頼性一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2012-06-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | LSI構造解析によるトラブル未然防止に関する研究 |
| サブタイトル（和） | 発電プラント用電子部品の信頼性向上に向けた取り組み |
| タイトル（英） | Study on Prevention of Trouble by Structure Analysis of LSI |
| サブタイトル（英） | The efforts for the reliability improvement of the electronic components for power plant |
| キーワード(1)（和/英） | LSI / LSI |
| キーワード(2)（和/英） | 信頼性試験 / The reliability test |
| キーワード(3)（和/英） | 構造解析 / The structural analysis |
| キーワード(4)（和/英） | 良品解析 / The article of good quality analysis |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 村上 和也 / Kazuya Murakami / ムラカミ カズヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社東芝 (略称： 東芝) Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 角本 雄一 / Yuichi Sumimoto / スミモト ユウイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 株式会社東芝 (略称： 東芝) Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-06-15 13:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2012-11 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.82 |
| ページ範囲 | pp.1-5 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2012-06-08 (R) |
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