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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-06-22 15:00 キセノンランプ照射時のプリント配線パターン導体間のESDサージに対するフラッシオーバ電圧特性 ○坪井浩太郎・岩井 将・大塚信也（九工大）  EMCJ2012-29 |
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| 抄録 | （和） | 静電気放電（ESD:Electrostatic discharge）によるサージに対するプリント配線パターン導体間のフラッシオーバ電圧（FOV）にはばらつきが認められる．これは，初期電子発生確率や放電進展のばらつきによることが知られている．プリント配線パターン導体間ギャップgのESDサージに対するFOVの特性理解や，ESD耐性の高い電子機器開発のためには，FO試験の再現性向上が重要課題である．本論文では，キセノン（Xe）ランプ照射がFOV特性に及ぼす影響を調べることを目的とし，プリント配線パターン導体間ギャップgにおけるFOVの標準偏差σや50%FOVであるV50をに着目して調べた．その結果，Xeランプ照射によりV50は20%低下することや，σはFO試験の昇圧ステップΔV（=0.1kV）程度まで低下することが示された．Xeランプ照射により，V50は，g<1.0mmではパッシェン曲線に従い，他方g>1.0mmではToeplerの式で評価できることが示された． |
| （英） | Flashover voltages(FOVs) between foil conductors on printed wiring board(PWB) by electrostatic discharge(ESD)have a dispersion even at the same condition test. This dispersion could be caused by probabilities of initial electron generation(statistical time lag) and/or discharge development(formative time lag). In order to understand the FOV properties and develop the electronic devices with high immunity for ESD, it is important to the improve the repeatability of FO test. In this paper, we investigated FOV properties between foil conductors on PWB by xenon（Xe）lump irradiation. As a result, it was found that σ decreased to step ΔV(=0.1kV) and V50 also decreases by 20% by Xe lump irradiation. V50 agreed with the Paschen curve below the g=1.0mm, and trend of the Toepler's equation over g=1.0mm. | |
| キーワード | （和） | 静電気放電 / プリント配線板 / フラッシオーバ / キセノンランプ / / / / |
| （英） | Electrostatic discharge / Printed wiring board / Flashover / Xenon lump / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 100, EMCJ2012-29, pp. 49-52, 2012年6月. | |
| 資料番号 | EMCJ2012-29 | |
| 発行日 | 2012-06-15 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2012-29 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ IEE-EMC |
| 開催期間 | 2012-06-22 - 2012-06-22 |
| 開催地（和） | 大阪大学吹田キャンパス |
| 開催地（英） | Osaka Univ. |
| テーマ（和） | EMC, 一般 |
| テーマ（英） | EMC |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2012-06-EMCJ-EMC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | キセノンランプ照射時のプリント配線パターン導体間のESDサージに対するフラッシオーバ電圧特性 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Flashover Voltage Properties between Foil Conductors on Printed Wiring Board for ESD Surge by Xenon Lump Irradiation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 静電気放電 / Electrostatic discharge |
| キーワード(2)（和/英） | プリント配線板 / Printed wiring board |
| キーワード(3)（和/英） | フラッシオーバ / Flashover |
| キーワード(4)（和/英） | キセノンランプ / Xenon lump |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坪井 浩太郎 / Kotaro Tsuboi / ツボイ コウタロウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩井 将 / Sho Iwai / イワイ ショウ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大塚 信也 / Shinya Ohtsuka / オオツカ シンヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-06-22 15:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2012-29 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.100 |
| ページ範囲 | pp.49-52 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2012-06-15 (EMCJ) |
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