| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2012-06-22 16:10
On Per-Cell Dynamic IR-Drop Estimation in At-Speed Scan Testing ○Yuta Yamato・Tomokazu Yoneda・Kazumi Hatayama・Michiko Inoue(NAIST) DC2012-15 |
| 抄録 |
(和) |
(まだ登録されていません) |
| (英) |
It is well known that dynamic IR-drop analysis consumes large amount of time even for a few clock cycles. This paper addresses this issue with a novel per-cell dynamic IR-drop estimation method. Instead of performing time-consuming IR-drop analysis for each clock cycle one by one, the proposed method uses global cycle average power profile for each cycle and dynamic IR-drop profiles for a few representative cycles, thus total computation time is effectively reduced. Experimental results on a benchmark circuit demonstrate that the proposed method achieves both high accuracy and high time-efficiency. |
| キーワード |
(和) |
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| (英) |
IR-drop / Scan testing / Test-induced yield loss / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 102, DC2012-15, pp. 39-44, 2012年6月. |
| 資料番号 |
DC2012-15 |
| 発行日 |
2012-06-15 (DC) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
DC2012-15 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
DC |
| 開催期間 |
2012-06-22 - 2012-06-22 |
| 開催地(和) |
機械振興会館 |
| 開催地(英) |
Room B3-1 Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ(和) |
設計/テスト/検証 |
| テーマ(英) |
Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
DC |
| 会議コード |
2012-06-DC |
| 本文の言語 |
英語 |
| タイトル(和) |
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| サブタイトル(和) |
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| タイトル(英) |
On Per-Cell Dynamic IR-Drop Estimation in At-Speed Scan Testing |
| サブタイトル(英) |
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| キーワード(1)(和/英) |
/ IR-drop |
| キーワード(2)(和/英) |
/ Scan testing |
| キーワード(3)(和/英) |
/ Test-induced yield loss |
| キーワード(4)(和/英) |
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| キーワード(5)(和/英) |
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| キーワード(6)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
大和 勇太 / Yuta Yamato / ヤマト ユウタ |
| 第1著者 所属(和/英) |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
米田 友和 / Tomokazu Yoneda / ヨネダ トモカズ |
| 第2著者 所属(和/英) |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
畠山 一実 / Kazumi Hatayama / ハタヤマ カズミ |
| 第3著者 所属(和/英) |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
井上 美智子 / Michiko Inoue / イノウエ ミチコ |
| 第4著者 所属(和/英) |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2012-06-22 16:10:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
DC |
| 資料番号 |
DC2012-15 |
| 巻番号(vol) |
vol.112 |
| 号番号(no) |
no.102 |
| ページ範囲 |
pp.39-44 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2012-06-15 (DC) |