| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-06-22 16:35 リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討 ○三宅庸資・笹川拓麿・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京）  DC2012-16 |
|
| 抄録 | （和） | VLSIの劣化による回路遅延の増加が問題となっている．フィールドテストで高精度な遅延測定を行いその増加を検出するためには，温度や電圧等の遅延への影響を考慮する必要がある．そこで，リングオシレータを核とする温度・電圧モニタ用回路の試作を行い，チップ内部の温度と電圧の測定を行った．本論文では，試作した温度・電圧モニタ用回路の評価結果を利用し，フィールドテストへの活用を行う際の課題と対応策の検討について述べる． |
| （英） | Delay increase due to aging phenomena is a critical issue of VLSIs. For detecting such increase in field, highly accurate delay measurement that considers the influence by temperature and voltage is strongly needed. Therefore, we developed a TEG, in which ring-oscillator-based monitoring circuits are embedded, and evaluated on-chip temperature and voltage using the monitor circuits. In this paper, we discuss the issues and solutions field for test by using the evaluation results of the chip. | |
| キーワード | （和） | 劣化検知 / フィールドテスト / 温度・電圧モニタ / リングオシレータ / / / / |
| （英） | Aging / Field test / Temperature and Voltage monitor / Ring Oscillator / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 102, DC2012-16, pp. 45-50, 2012年6月. | |
| 資料番号 | DC2012-16 | |
| 発行日 | 2012-06-15 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2012-16 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2012-06-22 - 2012-06-22 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Room B3-1 Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of the on-chip temperature and voltage using ring-oscillator-based monitoring circuit and a study for an application to field test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 劣化検知 / Aging |
| キーワード(2)（和/英） | フィールドテスト / Field test |
| キーワード(3)（和/英） | 温度・電圧モニタ / Temperature and Voltage monitor |
| キーワード(4)（和/英） | リングオシレータ / Ring Oscillator |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三宅 庸資 / Yousuke Miyake / ミヤケ ヨウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 笹川 拓麿 / Takuma Sasakawa / ササカワ タクマ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三浦 幸也 / Yukiya Miura / ミウラ ユキヤ |
| 第5著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： TMU) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-06-22 16:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2012-16 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.102 |
| ページ範囲 | pp.45-50 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-06-15 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]