講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-06-22 16:35
リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討 ○三宅庸資・笹川拓麿・佐藤康夫・梶原誠司(九工大)・三浦幸也(首都大東京) DC2012-16 |
抄録 |
(和) |
VLSIの劣化による回路遅延の増加が問題となっている.フィールドテストで高精度な遅延測定を行いその増加を検出するためには,温度や電圧等の遅延への影響を考慮する必要がある.そこで,リングオシレータを核とする温度・電圧モニタ用回路の試作を行い,チップ内部の温度と電圧の測定を行った.本論文では,試作した温度・電圧モニタ用回路の評価結果を利用し,フィールドテストへの活用を行う際の課題と対応策の検討について述べる. |
(英) |
Delay increase due to aging phenomena is a critical issue of VLSIs. For detecting such increase in field, highly accurate delay measurement that considers the influence by temperature and voltage is strongly needed. Therefore, we developed a TEG, in which ring-oscillator-based monitoring circuits are embedded, and evaluated on-chip temperature and voltage using the monitor circuits. In this paper, we discuss the issues and solutions field for test by using the evaluation results of the chip. |
キーワード |
(和) |
劣化検知 / フィールドテスト / 温度・電圧モニタ / リングオシレータ / / / / |
(英) |
Aging / Field test / Temperature and Voltage monitor / Ring Oscillator / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 102, DC2012-16, pp. 45-50, 2012年6月. |
資料番号 |
DC2012-16 |
発行日 |
2012-06-15 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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DC2012-16 |