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| 講演名 | 2012-06-22 13:50 高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察 ○深澤祐樹・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大）  DC2012-11 |
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| 抄録 | （和） | BIST回路（テスト生成器や応答圧縮器など）の故障は， 被テスト回路に対するテスト実行結果の判定を誤らせる可能性があり，歩留まりの低下や市場不良の増加の原因となる． 仮にBIST回路に対して耐故障設計が施されていれば， BIST回路に故障が発生したとしても無故障時と同様の期待動作が可能となり， 組込み自己テストによるテスト実行結果はより高信頼となる． 本論文では，高信頼組込み自己テストを実現するために2種類の耐故障テスト生成器を考案する． これら2種類の耐故障テスト生成器に加えて既存の救済機構付きテスト生成器[10]を取り上げ，テスト生成器に永久故障または一時故障を仮定した際の信頼性について議論する． 評価実験により，考案した2つのテスト生成器がそれぞれ永久故障，一時故障の仮定の下で有効であることを示す． |
| （英） | In the BIST (built-in self-test) scheme, the occurrence of faults in BIST circuits, such as TPGs (test pattern generators) and test response analyzers, may cause unreliable testing of chips, so that it results in field defects and yield loss. If BIST circuits are fault-tolerant, faulty BIST circuits behave as fault-free ones. As a result, testing of chips becomes more reliable. In this paper, we propose two novel fault-tolerant TPGs for reliable BIST, and discuss the reliability of not only the two fault-tolerant TPGs but also the repairable TPG[10] under the assumption where permanent or transient faults exist in the TPGs. Experimental results show that the proposed TPGs are effective under the assumption of permanent faults and transient faults, respectively. |
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| キーワード | （和） | 組込み自己テスト / 耐故障 / テスト生成器 / 高信頼テスト / 巡回符号 / 信頼性モデル / / |
| （英） | Built-in self-test / fault tolerance / test pattern generators / reliable test / cyclic code / reliability model / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 102, DC2012-11, pp. 15-20, 2012年6月. | |
| 資料番号 | DC2012-11 | |
| 発行日 | 2012-06-15 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2012-11 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2012-06-22 - 2012-06-22 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Room B3-1 Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on Fault Tolerant Test Pattern Generators for Reliable Built-in Self Test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込み自己テスト / Built-in self-test |
| キーワード(2)（和/英） | 耐故障 / fault tolerance |
| キーワード(3)（和/英） | テスト生成器 / test pattern generators |
| キーワード(4)（和/英） | 高信頼テスト / reliable test |
| キーワード(5)（和/英） | 巡回符号 / cyclic code |
| キーワード(6)（和/英） | 信頼性モデル / reliability model |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 深澤 祐樹 / Yuki Fukazawa / フカザワ ユウキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩垣 剛 / Tsuyoshi Iwagaki / イワガキ ツヨシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-06-22 13:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2012-11 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.102 |
| ページ範囲 | pp.15-20 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-06-15 (DC) |
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