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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-06-22 14:20 ［招待講演］シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み ○高橋 寛・樋上喜信（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）  DC2012-12 |
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| 抄録 | （和） | 本研究では，電磁界シミュレーションおよび半断線故障TEGの製作・測定に基づいてシグナルインティグリティ不良の原因となる配線の半断線故障の振る舞いを解明する．さらに，得られた解析結果に基づいて半断線故障に対する故障検査法を提案する．これらの研究成果は，2009年度から2011年度に行った(株)半導体理工学研究センター(STARC)との共同研究成果である． |
| （英） | We try to empirically study signal integrity-defects. In this study, we analyze the resistive open fault that causes the signal integrity-defect by using the three-dimensional (3-D) electromagnetic software and the TEG with the resistive open faults.We propose a method for generating the test patterns for the resistive open faults under the launch-off-capture (LOC) test.We also propose a method for diagnosing the resistive open faults by using the diagnostic delay fault simulation with considering the affects of the adjacent lines. |
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| キーワード | （和） | 半断線故障 / テストパターン生成 / 診断 / 拡張遅延故障モデル / 隣接信号線 / / / |
| （英） | resistive open fault / test pattern generation / diagnosis / extended delay fault model / adjacent lines / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 102, DC2012-12, pp. 21-26, 2012年6月. | |
| 資料番号 | DC2012-12 | |
| 発行日 | 2012-06-15 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2012-12 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2012-06-22 - 2012-06-22 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Room B3-1 Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Empirical study for signal integrity-defects |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 半断線故障 / resistive open fault |
| キーワード(2)（和/英） | テストパターン生成 / test pattern generation |
| キーワード(3)（和/英） | 診断 / diagnosis |
| キーワード(4)（和/英） | 拡張遅延故障モデル / extended delay fault model |
| キーワード(5)（和/英） | 隣接信号線 / adjacent lines |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第2著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 堤 利幸 / Toshiyuki Tsutsumi / ツツミ トシユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ |
| 第5著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) University of Tokushima (略称： Univ. Tokushima) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ |
| 第6著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) University of Tokushima (略称： Univ. Tokushima) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-06-22 14:20:00 |
| 発表時間 | 50分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2012-12 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.102 |
| ページ範囲 | pp.21-26 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-06-15 (DC) |
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