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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-06-22 15:45 論理BISTの電力低減手法と評価 ○佐藤康夫・王 森レイ・加藤隆明・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大）  DC2012-14 |
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| 抄録 | （和） | 論理BISTのテスト時電力は通常のスキャンテストよりも高く電力低減が必要であるが，発生パターンのランダム性から，その制御は必ずしも容易ではない．またテスト時電力は，スキャン入力パターンが引き起こす電力，キャプチャ時の電力，及びスキャン出力パターンが引き起こす電力と分類でき，各々そのメカニズムが異なる．提案手法はスキャンパターンの変形回路とテスト時の制御により，故障検出率の低下が殆どなく，大幅な電力低減が可能であることを示す． |
| （英） | Low-power test technology has been investigated deeply to achieve an accurate and efficient testing. Although many sophisticated methods are proposed for scan-test, there are not so many for logic BIST because of its uncontrollable randomness. However, logic BIST currently becomes vital for system debug or field test. This paper proposes a novel low power BIST technology that eliminates the specified high-frequency parts of vectors in scan-shift and also reduces capture power. The authors show that the proposed technology not only reduces test power but also controls test power with little loss of test coverage. | |
| キーワード | （和） | 論理BIST / テスト時電力 / 故障検出率 / / / / / |
| （英） | Logic BIST / Test power / Fault coverage / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 102, DC2012-14, pp. 33-38, 2012年6月. | |
| 資料番号 | DC2012-14 | |
| 発行日 | 2012-06-15 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2012-14 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2012-06-22 - 2012-06-22 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Room B3-1 Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 論理BISTの電力低減手法と評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Evaluation of Low Power BIST Method |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 論理BIST / Logic BIST |
| キーワード(2)（和/英） | テスト時電力 / Test power |
| キーワード(3)（和/英） | 故障検出率 / Fault coverage |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 加藤 隆明 / Takaaki Kato / カトウ タカアキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-06-22 15:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2012-14 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.102 |
| ページ範囲 | pp.33-38 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-06-15 (DC) |
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