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講演抄録/キーワード
講演名 2012-07-20 15:30
SO-DIMM評価モデルを用いたキットモジュールレベルと放射電界強度レベルの相関性の検討
桑原伸夫九工大)・遠矢弘和アイキャスト)・村松秀則VCCI協会)・森 健吾オー・アイ・データ機器)・島先敏貴NECエンジニアリングEMCJ2012-47 EMD2012-22 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2012-22
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 112, no. 143, EMCJ2012-47, pp. 37-42, 2012年7月.
資料番号 EMCJ2012-47 
発行日 2012-07-13 (EMCJ, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2012-47 EMD2012-22 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2012-22

研究会情報
研究会 EMCJ EMD  
開催期間 2012-07-20 - 2012-07-20 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 放電・実装, EMC, 一般 
テーマ(英) Discharge, EMC, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2012-07-EMCJ-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SO-DIMM評価モデルを用いたキットモジュールレベルと放射電界強度レベルの相関性の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Study of correlation between kit-module level and electric field strength by using SO-DIMM evaluation model 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 桑原 伸夫 / Nobuo Kuwabara / クワバラ ノブオ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 遠矢 弘和 / Hirokazu Tohya /
第2著者 所属(和/英) 株式会社アイキャスト (略称: アイキャスト)
ICAST, Inc. (略称: ICAST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 村松 秀則 / Hidenori Muramatsu /
第3著者 所属(和/英) VCCI協会 (略称: VCCI協会)
VCCI Council (略称: VCCI)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 森 健吾 / Kengo Mori /
第4著者 所属(和/英) 株式会社アイ・オー・データ機器 (略称: オー・アイ・データ機器)
I-O DATA DEVICE, INC. (略称: I-O DATA DEVIC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 島先 敏貴 / Toshiki Shimasaki /
第5著者 所属(和/英) NECエンジニアリング(株) (略称: NECエンジニアリング)
NEC Engineering, Ltd. (略称: NEC Engineering)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-07-20 15:30:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2012-47, EMD2012-22 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.143(EMCJ), no.144(EMD) 
ページ範囲 pp.37-42 
ページ数
発行日 2012-07-13 (EMCJ, EMD) 


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