| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2012-07-20 15:30
SO-DIMM評価モデルを用いたキットモジュールレベルと放射電界強度レベルの相関性の検討 ○桑原伸夫(九工大)・遠矢弘和(アイキャスト)・村松秀則(VCCI協会)・森 健吾(オー・アイ・データ機器)・島先敏貴(NECエンジニアリング) EMCJ2012-47 EMD2012-22 |
| 抄録 |
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| キーワード |
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| 文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 143, EMCJ2012-47, pp. 37-42, 2012年7月. |
| 資料番号 |
EMCJ2012-47 |
| 発行日 |
2012-07-13 (EMCJ, EMD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
EMCJ2012-47 EMD2012-22 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
EMCJ EMD |
| 開催期間 |
2012-07-20 - 2012-07-20 |
| 開催地(和) |
機械振興会館 |
| 開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ(和) |
放電・実装, EMC, 一般 |
| テーマ(英) |
Discharge, EMC, etc. |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
EMCJ |
| 会議コード |
2012-07-EMCJ-EMD |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
SO-DIMM評価モデルを用いたキットモジュールレベルと放射電界強度レベルの相関性の検討 |
| サブタイトル(和) |
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| タイトル(英) |
Study of correlation between kit-module level and electric field strength by using SO-DIMM evaluation model |
| サブタイトル(英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
桑原 伸夫 / Nobuo Kuwabara / クワバラ ノブオ |
| 第1著者 所属(和/英) |
九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
遠矢 弘和 / Hirokazu Tohya / |
| 第2著者 所属(和/英) |
株式会社アイキャスト (略称: アイキャスト)
ICAST, Inc. (略称: ICAST) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
村松 秀則 / Hidenori Muramatsu / |
| 第3著者 所属(和/英) |
VCCI協会 (略称: VCCI協会)
VCCI Council (略称: VCCI) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
森 健吾 / Kengo Mori / |
| 第4著者 所属(和/英) |
株式会社アイ・オー・データ機器 (略称: オー・アイ・データ機器)
I-O DATA DEVICE, INC. (略称: I-O DATA DEVIC) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
島先 敏貴 / Toshiki Shimasaki / |
| 第5著者 所属(和/英) |
NECエンジニアリング(株) (略称: NECエンジニアリング)
NEC Engineering, Ltd. (略称: NEC Engineering) |
| 第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2012-07-20 15:30:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
EMCJ |
| 資料番号 |
EMCJ2012-47, EMD2012-22 |
| 巻番号(vol) |
vol.112 |
| 号番号(no) |
no.143(EMCJ), no.144(EMD) |
| ページ範囲 |
pp.37-42 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2012-07-13 (EMCJ, EMD) |
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