ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2012-09-07 15:40
BCI(Bulk Current Injection)試験系のシミュレーションモデル
田中宏哉高橋篤弘服部佳晋豊田中研)・泉地正人デンソーEMCJ2012-60
抄録 (和) BCI (Bulk Current Injection) 試験は,
高周波ノイズ電流に対する車載電子部品のイミュニティ試験である.
電子部品の設計段階からノイズ耐性を予測し,対策の作り込みを可能にす
るため,BCI試験系のシミュレーションモデルの開発が望まれている.
BCI試験は,(1)電流注入プローブ,(2)ハーネス,(3)負荷から構成される.
本報告では,(1)電流注入プローブを理想変圧器,
(2)ハーネスを電磁界シミュレーションモデル,
(3)負荷を測定から抽出されるインピーダンスマトリクスでモデル化し,
それらを接続し試験系をモデル化する手法を提案する.
今回,電子部品の端子を$50\Omega$終端に置き換えた
BCI試験系を対象として,実測と提案モデルによるシミュレーションを比較した.
その結果,両者の共振ピーク周波数はほぼ一致し,
本手法は,BCI試験系での各端子の注入電流を予測する上で有効であることを
示した. 
(英) BCI test is used to evaluate a noise immunity of in-vehicle electronic
equipment. To predict an injected current into the equipment and to
improve the noise immunity during a design stage, a simulation model of
the BCI test is desired. In this report, we propose a new modeling
method for simulating the injected current of the test. The test system
consists of (1) a current-injection probe, (2) harnesses, and (3)
equipment, which are modeled as an ideal transformer and impedance
matrixes. The whole system model is obtained by connecting these
models. Here, the simulation and an experiment were carried out for the
BCI test using 50 ohm loads instead of the DUT. The simulation results
of injected current spectrums agreed with the experimental ones. From
these results, this model can be useful for the prediction of injected
current spectrum at each terminal of the DUT.
キーワード (和) バルクカレントインジェクション試験 / シミュレーションモデル / 連成解析 / イミュニティ / 車載電子部品 / / /  
(英) Bulk current injection test / Simulation model / Coupled analysis / Immunity / In-vehicle electronic equipment / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 201, EMCJ2012-60, pp. 47-50, 2012年9月.
資料番号 EMCJ2012-60 
発行日 2012-08-31 (EMCJ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2012-60

研究会情報
研究会 EMCJ  
開催期間 2012-09-07 - 2012-09-07 
開催地(和) 北海道大学 
開催地(英) Hkkaido Univ. 
テーマ(和) 生体, EMC, 一般 
テーマ(英) Biomedical EMC, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2012-09-EMCJ 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) BCI(Bulk Current Injection)試験系のシミュレーションモデル 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A simulation model of bulk current injection (BCI) test 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) バルクカレントインジェクション試験 / Bulk current injection test  
キーワード(2)(和/英) シミュレーションモデル / Simulation model  
キーワード(3)(和/英) 連成解析 / Coupled analysis  
キーワード(4)(和/英) イミュニティ / Immunity  
キーワード(5)(和/英) 車載電子部品 / In-vehicle electronic equipment  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中 宏哉 / Hiroya Tanaka / タナカ ヒロヤ
第1著者 所属(和/英) 株式会社 豊田中央研究所 (略称: 豊田中研)
Toyota Central R&D Labs. (略称: Toyota Central R&D Labs.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 篤弘 / Atsuhiro Takahashi / タカハシ アツヒロ
第2著者 所属(和/英) 株式会社 豊田中央研究所 (略称: 豊田中研)
Toyota Central R&D Labs. (略称: Toyota Central R&D Labs.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 服部 佳晋 / Yoshiyuki Hattori / ハットリ ヨシユキ
第3著者 所属(和/英) 株式会社 豊田中央研究所 (略称: 豊田中研)
Toyota Central R&D Labs. (略称: Toyota Central R&D Labs.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 泉地 正人 / Masato Izumichi / イズミチ マサト
第4著者 所属(和/英) 株式会社 デンソー (略称: デンソー)
DENSO CORPORATION (略称: DENSO CORPORATION)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2012-09-07 15:40:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2012-60 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.201 
ページ範囲 pp.47-50 
ページ数
発行日 2012-08-31 (EMCJ) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会