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講演抄録/キーワード
講演名 2012-09-28 09:35
マルチステージBCH ~ BCH符号のNANDフラッシュメモリ向け拡張 ~
鳥井 修東芝IT2012-37
抄録 (和) 本稿において, 小規模誤りに対して高速な訂正を行う1stステージ, 1stステージでは訂正することができない大規模誤りに対して高能力な訂正を行う2ndステージ, という二段階のステージを持つ誤り訂正方式であるマルチステージBCHの説明を行う. マルチステージBCHはNANDフラッシュメモリへの適用を意識してBCHを拡張した方式であり, NANDフラッシュメモリにおいて高い頻度で発生する小規模な誤りに対しては1stステージのみで誤り訂正可能であるため, 平均的に高速な訂正速度を実現, また, NANDフラッシュメモリで低い頻度ながら発生する大規模な誤りに対しても2ndステージで誤り訂正可能であるため, 高い訂正能力も同時に実現できる. 
(英) Multi-Stage BCH is an extension of BCH code for NAND flash memory, and has 2 error correction stages. For small scale errors which occur frequently, high speed 1st error correction stage is applied, and for occasional large scale errors, high capable 2nd error correction stage is applied. As a result both high speed and high capable error correction are realized.
キーワード (和) BCH / NANDフラッシュメモリ / 誤り訂正符号 / 二段階 / / / /  
(英) BCH / NAND flash memory / Error Correction Code / Multi-Stage / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 215, IT2012-37, pp. 37-40, 2012年9月.
資料番号 IT2012-37 
発行日 2012-09-20 (IT) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード IT2012-37

研究会情報
研究会 IT  
開催期間 2012-09-27 - 2012-09-28 
開催地(和) 草津セミナーハウス 
開催地(英) Kusatsu Seminar House 
テーマ(和) 誤り訂正符号,一般(誤り訂正符号のワークショップと併催) 
テーマ(英) error correcting codes, general 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IT 
会議コード 2012-09-IT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) マルチステージBCH 
サブタイトル(和) BCH符号のNANDフラッシュメモリ向け拡張 
タイトル(英) Multi-Stage BCH 
サブタイトル(英) An extension of BCH code for NAND flash memory 
キーワード(1)(和/英) BCH / BCH  
キーワード(2)(和/英) NANDフラッシュメモリ / NAND flash memory  
キーワード(3)(和/英) 誤り訂正符号 / Error Correction Code  
キーワード(4)(和/英) 二段階 / Multi-Stage  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鳥井 修 / Osamu Torii / トリイ オサム
第1著者 所属(和/英) 株式会社 東芝 (略称: 東芝)
Toshiba Corporation (略称: Toshiba)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-09-28 09:35:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 IT 
資料番号 IT2012-37 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.215 
ページ範囲 pp.37-40 
ページ数
発行日 2012-09-20 (IT) 


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