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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-11-28 16:00 ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 ○宮瀬紘平・梶原誠司・温 暁青（九工大）  VLD2012-104 DC2012-70 |
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| 抄録 | （和） | テストパターンの故障検出能力に加えて，テストデータ量削減，低消費電力，テスト品質向上などの新しい特性を与える場合，テストパターン中のドントケアビットに論理値を割り当てるX 割当手法が使用される．しかし，X 割当の効果が低い場合，テスト容易化設計やテストパターン生成をやり直す必要がある．本研究では，テストパターン生成前にドントケアビット数を見積もることで，X 割当の効果を予測し，テスト容易化設計などのやり直しを回避する． |
| （英） | X-filling is often utilized so as to achieve test compression, test power reduction, or test quality improvement etc. in addition to fault detection. If X-filling cannot achieve sufficient results, we have to go back to the DFT and generate test vectors again. In this paper, we present a method to predict effectiveness of X-filling by estimating the number of don't-care (X) bits identified in test vectors. As the results, repeating the DFT and ATPG can be avoided due to insufficient results of X-filling. |
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| キーワード | （和） | テスト生成 / ATPG / ドントケアビット / LSI設計フロー / / / / |
| （英） | Test Generation / ATPG / Don't-Care Bit / LSI Design Flow / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 321, DC2012-70, pp. 261-266, 2012年11月. | |
| 資料番号 | DC2012-70 | |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2012-104 DC2012-70 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2012-11-26 - 2012-11-28 |
| 開催地（和） | 九州大学百年講堂 |
| 開催地（英） | Centennial Hall Kyushu University School of Medicine |
| テーマ（和） | デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2012 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Method to Estimate the Number of Don't-Care Bits with Netlist |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト生成 / Test Generation |
| キーワード(2)（和/英） | ATPG / ATPG |
| キーワード(3)（和/英） | ドントケアビット / Don't-Care Bit |
| キーワード(4)（和/英） | LSI設計フロー / LSI Design Flow |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-11-28 16:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2012-104, DC2012-70 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.320(VLD), no.321(DC) |
| ページ範囲 | pp.261-266 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) |
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