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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-12-14 16:00 過剰テスト緩和のためのテスト生成モデルと故障の許容性に基づくテストへの応用 ○櫻田正明・市原英行・岩垣 剛・井上智生（広島市大）  DC2012-77 |
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| 抄録 | （和） | 正常に動作するチップを不良と判断してしまう過剰テストは，実効歩留まりの低下を引き起こす．本論文では，過剰テスト緩和を目的とした選択的テスト生成モデルを提案する．このモデルを用いることで，一般的なATPGアルゴリズムを利用して，過剰テストの原因となる検出すべきでない故障の検出回避を指向したテスト生成が可能となる．さらにこのモデルを故障の許容性に基づくテスト生成に応用した場合について考察する．テスト生成問題を2つの最適化問題として定式化し，提案した選択的テスト生成モデルを用いた回路の誤り発生率を最小化するための近似アルゴリズムを提案する． |
| （英） | Over-testing, which is to judge fault-free chips as faulty ones, is a cause of the decrease in the effective yield of chips. In this paper, we propose a test generation model, called selective test generation model, in order to alleviate over-testing. Using this model with a general test generation algorithm can generate test patterns that not only detect target faults but also do not detect faults to be avoided being detected. Moreover, we discuss an application of this model to testing based on fault acceptability, which is defied according to error rate. We formulate two test generation problems for acceptable faults and give an approximate algorithm employing the proposed model to solve one of them. | |
| キーワード | （和） | 過剰テスト / 許容故障 / テスト生成 / 誤り率 / 回路変換 / テスト生成モデル / / |
| （英） | Over-testing / acceptable faults / test generation / error rate / transformation / test generation model / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 362, DC2012-77, pp. 21-26, 2012年12月. | |
| 資料番号 | DC2012-77 | |
| 発行日 | 2012-12-07 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2012-77 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2012-12-14 - 2012-12-14 |
| 開催地（和） | アオッサ(福井) |
| 開催地（英） | Aossa (Fukui) |
| テーマ（和） | 安全性および一般 |
| テーマ（英） | Safety, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-12-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 過剰テスト緩和のためのテスト生成モデルと故障の許容性に基づくテストへの応用 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Test Generation Model for Over-testing Alleviation and Its Application to Testing Based on Fault Acceptability |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 過剰テスト / Over-testing |
| キーワード(2)（和/英） | 許容故障 / acceptable faults |
| キーワード(3)（和/英） | テスト生成 / test generation |
| キーワード(4)（和/英） | 誤り率 / error rate |
| キーワード(5)（和/英） | 回路変換 / transformation |
| キーワード(6)（和/英） | テスト生成モデル / test generation model |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 櫻田 正明 / Masaaki Sakurada / サクラダ マサアキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) HIroshima City University (略称： HCU) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) HIroshima City University (略称： HCU) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩垣 剛 / Tsuyoshi Iwagaki / イワガキ ツヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) HIroshima City University (略称： HCU) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智生 / Tomoo Inoue / |
| 第4著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) HIroshima City University (略称： HCU) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-12-14 16:00:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2012-77 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.362 |
| ページ範囲 | pp.21-26 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-12-07 (DC) |
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