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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-12-18 10:20 テスト時ピーク電力最適化に向けた28nmHKMGプロセスのデジタルVdrop検出センサー ○五十嵐満彦・高沢義生・五十嵐康人・松下博明・竹内 幹（ルネサス エレクトロニクス）  ICD2012-115 |
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| 抄録 | （和） | フルデジタルで実装やテスト時の使用が容易なダイナミックVdropセンサーを提案する。このセンサーは2.4Kゲート規模で、異なるスタンダードセル種で構成された2つのパスの電圧感度差を活用することで動作する。28nm HKMGプロセスでテストチップを試作しその基本動作を確認した。提案するセンサーはスキャンテスト時の活性化率とピーク電力最適化を評価するのに用いることが出来る。 |
| （英） | We propose a dynamic voltage-drop sensor, which is fully digital so that it is easy to design into products and use for testing. The 2.4K-gate GHz sensor exploits the difference in the voltage sensitivity between two paths composed of different types of standard cells. We have fabricated a test chip in a 28-nm HKMG process and confirmed its feasibility. This sensor can be used to evaluate optimal activity rates and peak power in scan testing. | |
| キーワード | （和） | テスト / 動的電圧ドロップ / 活性化率 / 電圧ドロップセンサー / / / / |
| （英） | test / dynamic voltage drop / activity rate / voltage drop sensor / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-115, pp. 97-102, 2012年12月. | |
| 資料番号 | ICD2012-115 | |
| 発行日 | 2012-12-10 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2012-115 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2012-12-17 - 2012-12-18 |
| 開催地（和） | 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール |
| 開催地（英） | Tokyo Tech Front |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2012-12-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | テスト時ピーク電力最適化に向けた28nmHKMGプロセスのデジタルVdrop検出センサー |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | 28-nm HKMG GHz Digital Sensor for Detecting Dynamic Voltage Drops in Testing for Peak Power Optimization |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト / test |
| キーワード(2)（和/英） | 動的電圧ドロップ / dynamic voltage drop |
| キーワード(3)（和/英） | 活性化率 / activity rate |
| キーワード(4)（和/英） | 電圧ドロップセンサー / voltage drop sensor |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 五十嵐 満彦 / Mitsuhiko Igarashi / イガラシ ミツヒコ |
| 第1著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics corporation (略称： Renesas Electronics) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高沢 義生 / Yoshio Takazawa / タカザワ ヨシオ |
| 第2著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics corporation (略称： Renesas Electronics) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 五十嵐 康人 / Yasuto Igarashi / イガラシ ヤスト |
| 第3著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics corporation (略称： Renesas Electronics) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松下 博明 / Hiroaki Matsushita / マツシタ ヒロアキ |
| 第4著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics corporation (略称： Renesas Electronics) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 竹内 幹 / Kan Takeuchi / タケウチ カン |
| 第5著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics corporation (略称： Renesas Electronics) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-12-18 10:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2012-115 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.365 |
| ページ範囲 | pp.97-102 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-12-10 (ICD) |
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