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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-01-16 16:00 オンチップ・リークモニタによるランタイム・パワーゲーティングの制御にむけた損益分岐点の評価 ○松永健作・工藤 優（芝浦工大）・太田雄也，小西奈緒（芝浦工大）・天野英晴（慶大）・坂本龍一・並木美太郎（東京農工大）・宇佐美公良（芝浦工大）  VLD2012-118 CPSY2012-67 RECONF2012-72 |
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| 抄録 | （和） | 消費電力の削減技術のひとつであるランタイム・パワーゲーティングはリーク電力を低減させることができるが、スリープさせたときと非スリープ時の電力が等しくなる損益分岐時間(BET)を求めることで効果的に削減できる。BETはリーク電流量に依存するためリーク電流をチップ上で測定することが求められる。本研究ではリーク電流を測定できるリークモニタを実装した65nmプロセスの試作チップを用いて測定を行い、各演算器のBETとリークモニタの出力結果との関係を示した。さらにこの関係を用いて、チップの動作中に様々な温度でBETが求められることを示す。 |
| （英） | Run-time Power Gating (RTPG) reduces leakage energy by turning off a power switch(PS) for idle periods of a circuit during the operation. To get energy savings in RTPG, power gating needs to be enabled only when the idle time exceeds the break-even time (BET) at which leakage energy reduction by turning off PS becomes equal to the energy overhead. Since BET changes with leakage current,on-line detection of BET is required for RTPG controls. We implemented an on-chip leakage monitor in 65nm CMOS technology, and showed the relation between BET of each computing unit , and leakage current. | |
| キーワード | （和） | オンチップ・リークモニタ / ランタイム・パワーゲーティング / 損益分岐点 / / / / / |
| （英） | On-chip Leakage monitor / Run-time Power Gating / Break Even Time / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 375, VLD2012-118, pp. 63-68, 2013年1月. | |
| 資料番号 | VLD2012-118 | |
| 発行日 | 2013-01-09 (VLD, CPSY, RECONF) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2012-118 CPSY2012-67 RECONF2012-72 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY VLD RECONF IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2013-01-16 - 2013-01-17 |
| 開催地（和） | 慶応義塾大学 日吉キャンパス |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | FPGA応用および一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2013-01-CPSY-VLD-RECONF-SLDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | オンチップ・リークモニタによるランタイム・パワーゲーティングの制御にむけた損益分岐点の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Break Even Time Evaluation of Run-Time Power Gating Control by On-chip Leakage Monitor |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | オンチップ・リークモニタ / On-chip Leakage monitor |
| キーワード(2)（和/英） | ランタイム・パワーゲーティング / Run-time Power Gating |
| キーワード(3)（和/英） | 損益分岐点 / Break Even Time |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松永 健作 / Kensaku Matsunaga / マツナガ ケンサク |
| 第1著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： SIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 工藤 優 / Masaru Kudo / クドウ マサル |
| 第2著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： SIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 太田 雄也 / Yuya Ohta / オオタ ユウヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | * (略称： *) * (略称： *) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小西 奈緒 / Nao Konishi / コニシ ナオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： SIT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 天野 英晴 / Hideharu Amano / アマノ ヒデハル |
| 第5著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学 (略称： 慶大) Keio University (略称： KU) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坂本 龍一 / Ryuichi Sakamoto / サカモト リュウイチ |
| 第6著者 所属（和/英） | 東京農工大学 (略称： 東京農工大) Tokyo University Of Agriculture and Technology (略称： TUAT) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 並木 美太郎 / Mitaro Namiki / ナミキ ミタロウ |
| 第7著者 所属（和/英） | 東京農工大学 (略称： 東京農工大) Tokyo University Of Agriculture and Technology (略称： TUAT) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宇佐美 公良 / Kimiyoshi Usami / ウサミ キミヨシ |
| 第8著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Insutitute of Technology (略称： SIT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-01-16 16:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2012-118, CPSY2012-67, RECONF2012-72 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.375(VLD), no.376(CPSY), no.377(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.63-68 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-01-09 (VLD, CPSY, RECONF) |
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