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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-01-29 15:55 プリント基板の電気検査におけるプローブピン位置補正の遺伝的アルゴリズムを用いた最適化 ○森澤雅志・片桐英樹（広島大）・羽森 寛（OHT）・加藤浩介（広島工大）  CAS2012-90 |
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| 抄録 | （和） | プリント基板に対する接触式の電気検査では，通常，小さなピンを基板のコンタクトパッドと呼ばれる配線の膨らんだ部分に接触させて電流を流すことにより，基板配線の導通を検査する．近年の電子機器の小型化によって，ピンやコンタクトパッド径は数十～数百マイクロメートルと小さくなってきているために，ただ1回のピン位置調整でピンをコンタクトパッドに正確に当てることは難しく，誤検出の原因となる．また，製造誤差等により，コンタクトパッド位置及びピン位置にはばらつきがあるため，これらも誤検出の原因となる．したがって，誤検出を防ぐためには，全てのピンと対応するコンタクトパッドの中心とのズレが極力小さくなるように位置補正することが重要となる． 本研究では，オペレータが選択した複数個のピンの打痕とコンタクトパッドの中心とのズレから最適な補正量を計算し，その作業をオペレータが許容できるズレになるするまで繰り返すというピンの位置補正システムを提案する． |
| （英） | Pin probe inspection methods have been widely used in printed circuit board electrical inspection. In conventional methods, due to the miniaturization of electronic devices, operators need to correct pin probe positions many times so as to exactly contact each of pins with the corresponding bulged part (called a contact pad) of a wiring. This research proposes a new pin probe optimization system through a genetic algorithm that automatically correct pin probe positions. In the proposed system, an optimal correction amount of the pin probe position is calculated using several data on the current positions of contact pads and marks of pins selected by an operator, which is iteratively performed until the operator is satisfied with the pin probe position. | |
| キーワード | （和） | プリント基板 / 電気検査 / 位置補正 / 狭ピッチ / / / / |
| （英） | printed circuit board / electrical inspection / position correction / narrow pitch / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 418, CAS2012-90, pp. 133-136, 2013年1月. | |
| 資料番号 | CAS2012-90 | |
| 発行日 | 2013-01-21 (CAS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CAS2012-90 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CAS |
| 開催期間 | 2013-01-28 - 2013-01-29 |
| 開催地（和） | 別府国際コンベンションセンター |
| 開催地（英） | Beppu International Convention Center |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | General |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | CAS |
| 会議コード | 2013-01-CAS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | プリント基板の電気検査におけるプローブピン位置補正の遺伝的アルゴリズムを用いた最適化 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Pin prove position optimization through genetic algorithm in printed circuit board electrical inspections |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | プリント基板 / printed circuit board |
| キーワード(2)（和/英） | 電気検査 / electrical inspection |
| キーワード(3)（和/英） | 位置補正 / position correction |
| キーワード(4)（和/英） | 狭ピッチ / narrow pitch |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森澤 雅志 / Masashi Morisawa / モリサワ マサシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島大学 (略称： 広島大) Hiroshima University (略称： Hiroshima Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 片桐 英樹 / Hideki Katagiri / カタギリ ヒデキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島大学 (略称： 広島大) Hiroshima University (略称： Hiroshima Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 羽森 寛 / Hiroshi Hamori / ハモリ ヒロシ |
| 第3著者 所属（和/英） | オー・エイチ・ティー株式会社 (略称： OHT) OHT Inc. (略称： OHT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 加藤 浩介 / Kosuke Kato / カトウ コウスケ |
| 第4著者 所属（和/英） | 広島工業大学 (略称： 広島工大) Hiroshima Institute of Technology (略称： Hiroshima Institute Tech) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-01-29 15:55:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | CAS |
| 資料番号 | CAS2012-90 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.418 |
| ページ範囲 | pp.133-136 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2013-01-21 (CAS) |
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