講演抄録/キーワード |
講演名 |
2013-02-13 16:40
フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法 ○吉見優太(奈良先端大)・畠山一実・大和勇太・米田友和・井上美智子(奈良先端大/JST) DC2012-90 |
抄録 |
(和) |
圧縮テストを行う際に発生する不定値は圧縮効率やテスト品質に悪影響を及ぼすため,その処理手法について盛んに研究が行われている.フィールドでの組込み自己テストにおいても同様の問題が起きるが,これらの手法を実現する場合,テストデータ量,テスト時間等の制約の考慮が必要となる.本研究では,フィールドテストにおける制約の中からデータ量に焦点を当て,X-Cancelingと呼ばれる既存手法において,不定値処理タイミングを一定間隔にすることによってデータ量削減を行う手法を提案する. |
(英) |
Many approaches on test pattern compression targeted unknown value handling. It is because unknown values have impacts on compression efficiency and test quality. A similar problem happens when built-in self test(BIST) is used in field where we should also consider test constraints, such as test data volume, test application time and so on. This paper focuses on the reduction of test data volume. We utilize an unknown values handling approach called X-canceling, and propose a method which uses a common X-canceling timing to reduce data volume for X-canceling operation. |
キーワード |
(和) |
組み込み自己テスト / BIST / 不定値処理 / フィールド高信頼化 / / / / |
(英) |
Built-in Self Test / BIST / Unknown Value Handling / Field Reliability / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 429, DC2012-90, pp. 61-66, 2013年2月. |
資料番号 |
DC2012-90 |
発行日 |
2013-02-06 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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DC2012-90 |