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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-03-08 13:55 アパーチャーレス型走査型近接場光学顕微鏡の偏光特性 ～ 10 nmの空間分解能を有する磁気イメージングを目指して ～ ○孟 倩文・青柳光春・蔡 永福・塩田達俊（長岡技科大）・江本顕雄（産総研）・小野浩司・石橋隆幸（長岡技科大）  MR2012-46 エレソ技報アーカイブへのリンク：MR2012-46 |
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| 抄録 | （和） | 我々は光の回折限界を超えた分解能で磁性体の磁区観察が可能なアパーチャーレス反射型近接場光学顕微鏡(Apertureless scanning near-field optical microscope: a-SNOM)を開発している。MO-SNOMを実現するためには、SNOMのプローブ先端部からの散乱光の偏光状態が保存されている必要がある。本研究は、クロム薄膜上にカンチレバーを接近させた状態で直線偏光を入射させたときに生じる散乱光の偏光状態を調べた。その結果、s偏光とp偏光を入射した場合、近接場光からの散乱光は偏光状態を保存していることがわかった。一方、-45度偏光を入射した場合、二つの直線偏光の足し合わせと考える結果が得られた。 |
| （英） | In order to achieve the MO-SNOM, it is necessary to examine the polarization property of scattered light from the probe of the SNOM. The polarization property was examined by measuring the signal strength the cantilever close the chromium thin film. As a result, the scattered light from the near-field light preserved the polarization property for the s-polarized light and p-polarized light incident.On the other hand, for the incident light is polarized -45 degrees, the Polarization Properties consiting of two different lineary polarized lights. | |
| キーワード | （和） | MO-SNOM / a-SNOM / 近接場光 / 偏光特性 / MOイメージ / / / |
| （英） | MO-SNOM / a-SNOM / Near-field light / Polarization property / MO image / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, 2013年3月. | |
| 資料番号 | ||
| 発行日 | 2013-03-01 (MR) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MR2012-46 エレソ技報アーカイブへのリンク：MR2012-46 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | MRIS ITE-MMS |
| 開催期間 | 2013-03-08 - 2013-03-08 |
| 開催地（和） | 名古屋大学 |
| 開催地（英） | Nagoya Univ. |
| テーマ（和） | 光記録，一般 |
| テーマ（英） | Optical recording, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MRIS |
| 会議コード | 2013-03-MR-MMS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | アパーチャーレス型走査型近接場光学顕微鏡の偏光特性 |
| サブタイトル（和） | 10 nmの空間分解能を有する磁気イメージングを目指して |
| タイトル（英） | Polarization Properties of Aperture less Near-field Scanning Optical Microscope |
| サブタイトル（英） | For a 10 nm-Spatial Resolution in MO imaging |
| キーワード(1)（和/英） | MO-SNOM / MO-SNOM |
| キーワード(2)（和/英） | a-SNOM / a-SNOM |
| キーワード(3)（和/英） | 近接場光 / Near-field light |
| キーワード(4)（和/英） | 偏光特性 / Polarization property |
| キーワード(5)（和/英） | MOイメージ / MO image |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 孟 倩文 / Qianwen Meng / モウ センブン |
| 第1著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 青柳 光春 / Mitsuharu Aoyagi / アオヤギ ミツハル |
| 第2著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 蔡 永福 / Yungfu Cai / サイ エイフク |
| 第3著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 塩田 達俊 / Tatsutoshi Shioda / シオダ タツトシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 江本 顕雄 / Akira Emoto / エモト アキラ |
| 第5著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小野 浩司 / Hiroshi Ono / オノ ヒロシ |
| 第6著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 石橋 隆幸 / Takayuki Ishibashi / イシバシ タカユキ |
| 第7著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-03-08 13:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | MRIS |
| 資料番号 | MR2012-46 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.452 |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-03-01 (MR) |
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