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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-04-12 15:25 暗号機器に故障を引き起こす妨害電磁波の可視化 ○林 優一・本間尚文・水木敬明・青木孝文・曽根秀昭（東北大）  EMCJ2013-8 |
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| 抄録 | （和） | 暗号機器に接続された電源ケーブルや通信ケーブルなどから電磁波を注入することによって計算誤りを引き起こし，誤った計算結果を解析することによって暗号機器の秘密鍵を取得する意図的な電磁妨害による故障注入攻撃が新たな脅威となっている．過去の検討により，注入する電磁波の周波数によって暗号モジュールでのフォールトの発生のしやすさに変化が生ずることが明らかとなっているが，印加した電磁波が基板上をどの様に伝搬し，暗号モジュールや他のモジュールを妨害しているのかという詳細なメカニズムについて十分に検討されていない．そこで，本稿ではメカニズム解明の基礎的検討として，妨害電磁波を暗号モジュールに注入し，その伝搬の様子を可視化することで，暗号機器に故障が発生する条件について検討を行う． |
| （英） | An IEMI-based fault injection is drawing much attention in the field of physical attacks on cryptographic devices due to its non-contact and non-invasive properties. This paper explores the relations between injection intensity and fault occurrence during IEMI-based fault injection. The basic idea is to generate a map of the effect of such fault injection for different frequencies. Through the map generated on an evaluation board, we demonstrate how an injected EM wave is propagated to the board depending on the intensity and frequency. We also demonstrate a detailed propagation of induced EM waves inside a target module (i.e., a cryptographic LSI chip) and other modules. Using the experimental map generation, we examine the condition that a transient fault available for attacks is generated in the cryptographic module. In addition, we discuss a possible countermeasure against IEMI-based fault injection. | |
| キーワード | （和） | 電磁妨害 / 電磁情報漏えい / フォールト解析 / / / / / |
| （英） | Electromagnetic Interference / Electromagnetic Information Leakage / Fault Injection Analysis / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 2, EMCJ2013-8, pp. 43-47, 2013年4月. | |
| 資料番号 | EMCJ2013-8 | |
| 発行日 | 2013-04-05 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2013-8 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2013-04-12 - 2013-04-12 |
| 開催地（和） | 岡山大 |
| 開催地（英） | Okayama Univ. |
| テーマ（和） | PCB,情報セキュリティ,EMC, 一般 |
| テーマ（英） | PCM,Information Security,EMC |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2013-04-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 暗号機器に故障を引き起こす妨害電磁波の可視化 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental Study on Visualization of Intentional Electromagnetic Interference Fault Injection on Cryptographic Device |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電磁妨害 / Electromagnetic Interference |
| キーワード(2)（和/英） | 電磁情報漏えい / Electromagnetic Information Leakage |
| キーワード(3)（和/英） | フォールト解析 / Fault Injection Analysis |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 本間 尚文 / Naofumi Homma / ホンマ ナオフミ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 水木 敬明 / Takaaki Mizuki / ミズキ タカアキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 青木 孝文 / Takafumi Aoki / アオキ タカフミ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 曽根 秀昭 / Hideaki Sone / ソネ ヒデアキ |
| 第5著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-04-12 15:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2013-8 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.2 |
| ページ範囲 | pp.43-47 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2013-04-05 (EMCJ) |
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