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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-04-25 10:25 微摺動機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗変動のモデリング(4) ～ ○和田真一・越田圭治・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大）  NLP2013-2 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた．開発した微摺動機構?を用いて，電気接点の劣化現象を引き起こし，接触電圧の時系列変動データを取得する．位相面解析によりこの時系列変動データには準安定な周期閉軌道および分岐現象が存在することを見出す．また，周波数における大小2つの理論矩形波により，接触電圧の時系列変動データは近似可能であることを示唆する．さらに，理論波の位相面解析にも同様な安定周期閉軌道と分岐現象がみられるが，実験波との差異も存在する．これらの現象は系の入力の非線形性に依存していると考えられるが，振幅や周波数のゆらぎやデータの飛び等に由来すると考えられる差異に関しては，系に内在する非線形性を考慮する必要を示唆する． |
| （英） | Authors have developed some mechanisms which give real vibration to electrical contacts and have studied the influences of a micro-oscillating on the contact resistance. By using the mechanism, “Micro-Sliding Mechanism II”, which is developed on trial, they obtained time-sequential fluctuation data of contact voltage. It is shown that there are quasi-stable and periodic closed orbits and bifurcation phenomenon in the data by using phase plane analysis. It is indicated that the experimental data are able to be simulated by large and small theoretical rectangular wave in frequency. It is also shown that there are stable and periodic closed orbits and bifurcation phenomenon similar to the above in the theoretical data by using phase plane analysis and that there are different phenomena from the above. It is suggested that there is necessary to consider the non-linearity in the system for analyzing the differences caused by the fluctuation of amplitudes or frequencies and data jumping although the phenomena depend often upon the non-linearity of the inputs into the system. | |
| キーワード | （和） | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 非線形性 / 位相面解析 / 軌道 / 分岐 |
| （英） | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / micro-sliding mechanism / non-linearity / phase plane analysis / orbit / bifurcation | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 15, NLP2013-2, pp. 7-12, 2013年4月. | |
| 資料番号 | NLP2013-2 | |
| 発行日 | 2013-04-18 (NLP) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | NLP2013-2 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | NLP |
| 開催期間 | 2013-04-25 - 2013-04-25 |
| 開催地（和） | 中京大学 名古屋キャンパス |
| 開催地（英） | Nagoya campus, Chukyo University |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | General |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | NLP |
| 会議コード | 2013-04-NLP |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 微摺動機構による電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | 接触抵抗変動のモデリング(4) |
| タイトル（英） | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism |
| サブタイトル（英） | Modeling about Fluctuation of Contact Resistance (4) |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | 微摺動機構 / micro-sliding mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 非線形性 / non-linearity |
| キーワード(6)（和/英） | 位相面解析 / phase plane analysis |
| キーワード(7)（和/英） | 軌道 / orbit |
| キーワード(8)（和/英） | 分岐 / bifurcation |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： Nippon Inst. of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-04-25 10:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | NLP |
| 資料番号 | NLP2013-2 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.15 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-04-18 (NLP) |
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