| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-08-01 18:00 レジスタ多重化による耐過渡故障高信頼プロセッサの評価 ○緑川直樹・小山善史（首都大東京）・新井雅之（日大）・福本 聡（首都大東京）  DC2013-20 |
|
| 抄録 | （和） | 近年，様々なアーキテクチャを前提に過渡故障に対するプロセッサの高信頼設計手法が提案されている．本研究では，そのような過渡故障に耐性を持つディペンダブルプロセッサの評価手法について検討する．ここでは，冗長構成に基づくプロセッサの耐故障機構に関する状態遷移だけに限れば，比較的少ない状態数だけでその挙動を記述できることに着目する．具体的には，丸本らの提案した同時多重に発生する過渡故障に耐性をもつ高信頼化プロセッサを取り上げ，信頼性評価モデルについて論ずる． |
| （英） | Recently, highly reliable design technique for processors which have transient error tolerance are presented for various kind of architectures. This paper examines the evaluation technique for such transient-error-tolerant dependable processors. We leverage relatively small size of the state transition diagram for only describing the fault tolerant mechanisms on the basis of redundant configurations. Specifically, fault tolerant processor for simultaneous occurrence of multiple transient faults presented by Marumoto et al. is focused on and the reliability evaluation model is discussed for its circuit scheme. |
|
| キーワード | （和） | 過渡故障 / 高信頼プロセッサ / 信頼性評価 / / / / / |
| （英） | transient fault / dependable processor / reliability evaluation / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 170, DC2013-20, pp. 21-25, 2013年8月. | |
| 資料番号 | DC2013-20 | |
| 発行日 | 2013-07-25 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2013-20 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC CPSY |
| 開催期間 | 2013-08-01 - 2013-08-02 |
| 開催地（和） | 北九州国際会議場 |
| 開催地（英） | Kitakyushu-Kokusai-Kaigijyo |
| テーマ（和） | 並列／分散／協調とディペンダブルコンピューティングおよび一般 |
| テーマ（英） | Parallel, Distributed and Cooperative Processing |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2013-07-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | レジスタ多重化による耐過渡故障高信頼プロセッサの評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of Transient-Error-Tolerant Dependable Processors based on Multiplexed Registers |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 過渡故障 / transient fault |
| キーワード(2)（和/英） | 高信頼プロセッサ / dependable processor |
| キーワード(3)（和/英） | 信頼性評価 / reliability evaluation |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 緑川 直樹 / Naoki Midorikawa / ミドリカワ ナオキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 首都大東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小山 善史 / Yoshifumi Koyama / コヤマ ヨシフミ |
| 第2著者 所属（和/英） | 首都大東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 福本 聡 / Satoshi Fukumoto / フクモト サトシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 首都大東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-08-01 18:00:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2013-20 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.170 |
| ページ範囲 | pp.21-25 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2013-07-25 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]