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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-08-29 09:50 半導体レーザの周波数雑音特性を応用した光距離計測の検討 ○清水直弥・前原進也（新潟大）・土井康平（東北学院大）・新井英明・佐藤 孝・大河正志・大平泰生・坂本秀一（新潟大）  R2013-30 EMD2013-36 CPM2013-55 OPE2013-59 LQE2013-29 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2013-36 CPM2013-55 OPE2013-59 LQE2013-29 |
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| 抄録 | （和） | 半導体レーザは，自然放出光の影響による振幅揺らぎとキャリア密度の変動から，屈折率の変動，すなわち発振周波数の変動となる周波数揺らぎを保有している．本研究では，半導体レーザの周波数雑音特性を積極的に利用した新たな応用として，光距離計測が可能か検討した．我々が提案する光距離計測では，周波数雑音の比較により、距離差を求める．それにより，光源の変調を必要とせず，遠距離でも測定精度が変わらないレーザ距離計測が可能と考えられる．ここでは，提案手法により0～35 mの光距離計測検討を行ったので報告する． |
| （英） | A semiconductor laser’s frequency fluctuates owing to the refractive index fluctuations caused by the spontaneous emission in a laser cavity. In this study, a new application of semiconductor laser’s frequency noise characteristics is discussed. We propose a new laser rangefinder using the semiconductor laser’s frequency noise. This method calculates the correlation between the divided laser beams and determines the optical distance without any modulation, and its accuracy are expected unchanged even in a long distance measurement. We measured the distance from 0 to 35m using the proposed method. | |
| キーワード | （和） | 半導体レーザ / 周波数雑音 / レーザ距離計測 / / / / / |
| （英） | Semiconductor laser / Frequency noise / Laser rangefinder / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 190, LQE2013-29, pp. 11-14, 2013年8月. | |
| 資料番号 | LQE2013-29 | |
| 発行日 | 2013-08-22 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2013-30 EMD2013-36 CPM2013-55 OPE2013-59 LQE2013-29 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2013-36 CPM2013-55 OPE2013-59 LQE2013-29 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OPE LQE CPM EMD R |
| 開催期間 | 2013-08-29 - 2013-08-30 |
| 開催地（和） | サンリフレ函館 |
| 開催地（英） | sun-refre Hakodate |
| テーマ（和） | 光部品・電子デバイス実装技術・信頼性、及び一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | LQE |
| 会議コード | 2013-08-OPE-LQE-CPM-EMD-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 半導体レーザの周波数雑音特性を応用した光距離計測の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Optical Distance Measurement Using Frequency Noises of a Semiconductor Laser |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 半導体レーザ / Semiconductor laser |
| キーワード(2)（和/英） | 周波数雑音 / Frequency noise |
| キーワード(3)（和/英） | レーザ距離計測 / Laser rangefinder |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 清水 直弥 / Naoya Shimizu / シミズ ナオヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata Uniiversity (略称： Niigata Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 前原 進也 / Shinya Maehara / マエハラ シンヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata Uniiversity (略称： Niigata Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 土井 康平 / Kohei Doi / ドイ コウヘイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東北学院大学 (略称： 東北学院大) Touhoku Gakuin University (略称： Touhoku Gakuin Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 新井 英明 / Hideaki Arai / アライ ヒデアキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata Uniiversity (略称： Niigata Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 孝 / Takashi Sato / サトウ タカシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata Uniiversity (略称： Niigata Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大河 正志 / Masashi Ohkawa / オオカワ マサシ |
| 第6著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata Uniiversity (略称： Niigata Univ.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大平 泰生 / Yasuo Ohdaira / オオダイラ ヤスオ |
| 第7著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata Uniiversity (略称： Niigata Univ.) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坂本 秀一 / Shuichi Sakamoto / サカモト シュウイチ |
| 第8著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata Uniiversity (略称： Niigata Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-08-29 09:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | LQE |
| 資料番号 | R2013-30, EMD2013-36, CPM2013-55, OPE2013-59, LQE2013-29 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.186(R), no.187(EMD), no.188(CPM), no.189(OPE), no.190(LQE) |
| ページ範囲 | pp.11-14 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2013-08-22 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) |
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