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講演抄録/キーワード
講演名 2013-09-03 14:05
Hardness of Classically Simulating Quantum Circuits with Unbounded Toffoli and Fan-Out Gates
Yasuhiro TakahashiNTT)・Takeshi YamazakiKazuyuki TanakaTohoku Univ.COMP2013-29
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) We study the classical simulatability of constant-depth polynomial-size quantum circuits followed by only one single-qubit measurement, where the circuits consist of universal gates on at most two qubits and additional gates on an unbounded number of qubits. First, we consider unbounded Toffoli gates as additional gates and deal with the weak simulation, i.e., sampling the output probability distribution. We show that there exists a constant-depth quantum circuit with only one unbounded Toffoli gate that is not weakly simulatable, unless BQP $subseteq$ PostBPP $cap$ AM. Then, we consider unbounded fan-out gates as additional gates and deal with the strong simulation, i.e., computing the output probability. We show that there exists a constant-depth quantum circuit with only two unbounded fan-out gates that is not strongly simulatable, unless P = PP. These results are in contrast to the fact that any constant-depth quantum circuit without additional gates on an unbounded number of qubits is strongly and weakly simulatable.
キーワード (和) / / / / / / /  
(英) constant-depth quantum circuit / classical simulation / unbounded Toffoli gate / unbounded fan-out gate / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 198, COMP2013-29, pp. 27-34, 2013年9月.
資料番号 COMP2013-29 
発行日 2013-08-27 (COMP) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード COMP2013-29

研究会情報
研究会 COMP  
開催期間 2013-09-03 - 2013-09-03 
開催地(和) 鳥取環境大学 
開催地(英)  
テーマ(和)  
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 COMP 
会議コード 2013-09-COMP 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Hardness of Classically Simulating Quantum Circuits with Unbounded Toffoli and Fan-Out Gates 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) / constant-depth quantum circuit  
キーワード(2)(和/英) / classical simulation  
キーワード(3)(和/英) / unbounded Toffoli gate  
キーワード(4)(和/英) / unbounded fan-out gate  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 康博 / Yasuhiro Takahashi / タカハシ ヤスヒロ
第1著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 武 / Takeshi Yamazaki / ヤマザキ タケシ
第2著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中 一之 / Kazuyuki Tanaka / タナカ カズユキ
第3著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2013-09-03 14:05:00 
発表時間 35分 
申込先研究会 COMP 
資料番号 COMP2013-29 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.198 
ページ範囲 pp.27-34 
ページ数
発行日 2013-08-27 (COMP) 


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