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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-11-08 09:20 割り込み要求線バンドルによる高信頼割り込みインタフェースの評価 ○野村隼人（豊橋技科大）・嶋田 創（名大）・小林良太郎（豊橋技科大）  CPSY2013-40 |
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| 抄録 | （和） | 近年のプロセッサは，オンチップにおける放射線による一時故障やエレクトマイグレーションによる永久故障のみならず，オフチップにおけるノイズによる一時故障やはんだクラックによる永久故障の脅威にさらされている．これまでのマイクロコントローラにおいて，割り込みインタフェースの一時故障，永久故障への耐性は考慮されておらず，この部分で故障が発生すると，回復不可能なプロセッサ状態の破壊が起きうる．そこで，割り込み要求線の冗長化と，クライアント機器への問い合わせを基本とする高信頼化割り込みインタフェースについて提案し，実装した．また，冗長構成による割り込み処理の遅延時間とバイナリフットプリントについて評価した． |
| （英） | Conventional processors are exposed to not only on-chip transient faults caused by radiation and permanent failures due to electro-migration, but also off-chip transient faults caused by noise and the permanent failures due to solder cracks. In conventional microcontroller, soft/hard-error tolerance is almost not considered around inputs such as interrupt interface. When fault occurs in this portion, it causes unrecoverable processor state destruction. Therefore, we implemented the dependable interrupt interface that is based on redundant interrupt request lines and query to the client device. In addition, we evaluate the amount of binary footprint and the interrupt latency by the redundant configuration. | |
| キーワード | （和） | 高信頼化 / 冗長化 / マイクロコントローラ / インタフェース / 割り込み / / / |
| （英） | Dependability / Redundancy / Microcontroller / Interface / Interrupt / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 282, CPSY2013-40, pp. 7-12, 2013年11月. | |
| 資料番号 | CPSY2013-40 | |
| 発行日 | 2013-11-01 (CPSY) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2013-40 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY |
| 開催期間 | 2013-11-08 - 2013-11-08 |
| 開催地（和） | 広島大学 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | クラウド、ネットワークおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | CPSY |
| 会議コード | 2013-11-CPSY |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 割り込み要求線バンドルによる高信頼割り込みインタフェースの評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of a Dependable Interrupt Interface by Bundled Interrupt Request Lines |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 高信頼化 / Dependability |
| キーワード(2)（和/英） | 冗長化 / Redundancy |
| キーワード(3)（和/英） | マイクロコントローラ / Microcontroller |
| キーワード(4)（和/英） | インタフェース / Interface |
| キーワード(5)（和/英） | 割り込み / Interrupt |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 野村 隼人 / Hayato Nomura / ノムラ ハヤト |
| 第1著者 所属（和/英） | 豊橋技術科学大学 (略称： 豊橋技科大) Toyohashi University of Technology (略称： Toyohashi Univ. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 嶋田 創 / Hajime Shimada / シマダ ハジメ |
| 第2著者 所属（和/英） | 名古屋大学 (略称： 名大) Nagoya University (略称： Nagoya Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 良太郎 / Ryotaro Kobayashi / コバヤシ リョウタロウ |
| 第3著者 所属（和/英） | 豊橋技術科学大学 (略称： 豊橋技科大) Toyohashi University of Technology (略称： Toyohashi Univ. of Tech.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-11-08 09:20:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | CPSY |
| 資料番号 | CPSY2013-40 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.282 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-11-01 (CPSY) |
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