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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-11-29 09:20 論理BISTにおけるスキャンイン電力制御回路のTEG評価について ○加藤隆明・喜納 猛・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）  VLD2013-93 DC2013-59 |
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| 抄録 | （和） | スキャンベースの論理BISTでは高いテスト時電力の低減が課題となっている．しかしアプリケーション毎にその電力低減目標は異なるので，テスト時電力を低減するだけでなく，それを制御する技術開発が必要である．筆者らの先行研究ではスキャンイン時のFFのトグル率を制御可能な電力低減回路を提案した．本研究では電力制御回路を用いた具体的な制御手法を提案するとともに，TEGチップに電力制御回路を実装し，実際の電力低減効果の測定評価を行う． |
| （英） | Power reduction during Logic BIST is a crucial problem; however, power controlling technologies are required as well as power reduction techniques because the required power level differs depending on its applications. The authors’ previous study has proposed a power reducing circuit that controls toggle rate during scan-in mode. This paper proposes a power controlling method, which is based on the power controlling circuit, and its effectiveness is evaluated by measurement of a TEG that equips the power controlling circuit. | |
| キーワード | （和） | BIST / スキャンテスト / 低消費電力化 / スキャンイン / / / / |
| （英） | BIST / scan test / low power dissipation / scan-in power / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 321, DC2013-59, pp. 233-238, 2013年11月. | |
| 資料番号 | DC2013-59 | |
| 発行日 | 2013-11-20 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2013-93 DC2013-59 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2013-11-27 - 2013-11-29 |
| 開催地（和） | 鹿児島県文化センター |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | デザインガイア2013 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2013 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2013-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 論理BISTにおけるスキャンイン電力制御回路のTEG評価について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design and evaluation of circuits to control scan-in power in logic BIST |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | スキャンテスト / scan test |
| キーワード(3)（和/英） | 低消費電力化 / low power dissipation |
| キーワード(4)（和/英） | スキャンイン / scan-in power |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 加藤 隆明 / Takaaki Kato / カトウ タカアキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 喜納 猛 / Takeru Kina / キナ タケル |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三宅 庸資 / Yousuke Miyake / ミヤケ ヨウスケ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-11-29 09:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2013-93, DC2013-59 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.320(VLD), no.321(DC) |
| ページ範囲 | pp.233-238 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-11-20 (VLD, DC) |
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