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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-12-19 16:45 平衡形円板共振器法による複素比誘電率の測定精度に関する検討 ○中堤 純（埼玉大）・小林禧夫（サムテック）・馬 哲旺（埼玉大）  MW2013-163 |
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| 抄録 | （和） | 平衡形円板共振器法は誘電体基板の垂直方向の複素誘電率(比誘電率εrn, 誘電正接tanδn)の測定に用いられる。現在、1個の共振器で共振周波数が異なるTM0m0モードを用いて広帯域に複素誘電率の周波数依存性測定を行うことが可能である。本報告では、まずシクロオレフィンポリマー基板の測定結果より円形銅箔の厚さを考慮した縁端効果の補正により比誘電率の測定精度が向上することを示す。次に円形銅箔の厚さおよびその円周部の空気領域の比誘電率の変化が複素比誘電率測定におよぼす影響を電磁界シミュレータと実験により明らかにする。この結果、銅箔円周部の影響を考慮することが測定精度向上のために重要であることが明確になった。 |
| （英） | A balanced-type circular disk resonator method is used for measuring complex permittivity in the normal direction (relative permittivity εrn, loss tangent tanδn) of a dielectric plate sample. Currently, to measure the frequency dependence of the complex permittivity, can be measured using the TM0m0 modes with different resonance frequency of a balanced-type circular disk resonator. This paper, at first of all, discusses improvement of measurement accuracy of the relative permittivity by taking the edge effect including thickness of a circular copper foil between COP substrates into account. Secondly, the effects of copper foil thickness and its circumference region on complex relative permittivity measurement are clarified from EM simulation and measurements. As a result, it is important for more accurate measurements to take these effects into account. | |
| キーワード | （和） | マイクロ波測定 / 複素比誘電率 / 誘電体基板 / 縁端効果 / / / / |
| （英） | microwave measurement / complex relative permittivity / dielectric substrates / edge effect / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 365, MW2013-163, pp. 71-76, 2013年12月. | |
| 資料番号 | MW2013-163 | |
| 発行日 | 2013-12-12 (MW) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MW2013-163 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
| 開催期間 | 2013-12-19 - 2013-12-20 |
| 開催地（和） | 埼玉大学 |
| 開催地（英） | Saitama Univ. |
| テーマ（和） | 学生研究会／マイクロ波一般 |
| テーマ（英） | Microwave Technologies / Student |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MW |
| 会議コード | 2013-12-MW |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 平衡形円板共振器法による複素比誘電率の測定精度に関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Discussions on Measurement Accuracy of Complex Relative Permittivity by a Balanced-type Circular Disk Resonator Method |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | マイクロ波測定 / microwave measurement |
| キーワード(2)（和/英） | 複素比誘電率 / complex relative permittivity |
| キーワード(3)（和/英） | 誘電体基板 / dielectric substrates |
| キーワード(4)（和/英） | 縁端効果 / edge effect |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中堤 純 / Jun Nakatsutsumi / ナカツツミ ジュン |
| 第1著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 禧夫 / Yoshio Kobayashi / コバヤシ ヨシオ |
| 第2著者 所属（和/英） | サムテック(有) (略称： サムテック) SUMTEC, Inc. (略称： SUMTEC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 馬 哲旺 / Zhewang Ma / マ テツオウ |
| 第3著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-12-19 16:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | MW |
| 資料番号 | MW2013-163 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.365 |
| ページ範囲 | pp.71-76 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-12-12 (MW) |
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