講演抄録/キーワード |
講演名 |
2014-02-10 16:00
マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・山崎浩二(明大) DC2013-89 |
抄録 |
(和) |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている.キャプチャ時の高い消費電力は過度のIRドロップを引き起こす可能性があり,歩留まり低下の原因のひとつに挙げられる.マルチサイクルBIST機構において,マルチサイクル間キャプチャ動作を行った後のキャプチャ時の消費電力は低いということが報告されている.本論文では,この点に着目し,キャプチャ時の消費電力を削減するために,マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いたブロードサイドテスト用のテスト生成法を提案する. |
(英) |
High power dissipation can occur when the response to a test pattern is captured by flip-flops in at-speed scan testing, resulting in excessive IR drop, which may cause significant capture-induced yield loss in the deep submicron era. Therefore, it is an important problem to reduce capture power dissipation. It was reported that a multi-cycle BIST scheme could reduce capture power dissipation. In this paper, we propose a test generation for broad side scan testing using multi-cycle capture test generation to reduce capture power dissipation by paying our attention to this point. |
キーワード |
(和) |
遷移故障 / 低消費電力 / マルチサイクルキャプチャテスト生成 / テスト不可能故障 / / / / |
(英) |
transition faults / low power dissipation / multi-cycle capture test generation / untestable faults / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 430, DC2013-89, pp. 61-66, 2014年2月. |
資料番号 |
DC2013-89 |
発行日 |
2014-02-03 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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DC2013-89 |