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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-02-10 16:00 マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大）  DC2013-89 |
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| 抄録 | （和） | ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高い消費電力は過度のIRドロップを引き起こす可能性があり，歩留まり低下の原因のひとつに挙げられる．マルチサイクルBIST機構において，マルチサイクル間キャプチャ動作を行った後のキャプチャ時の消費電力は低いということが報告されている．本論文では，この点に着目し，キャプチャ時の消費電力を削減するために，マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いたブロードサイドテスト用のテスト生成法を提案する． |
| （英） | High power dissipation can occur when the response to a test pattern is captured by flip-flops in at-speed scan testing, resulting in excessive IR drop, which may cause significant capture-induced yield loss in the deep submicron era. Therefore, it is an important problem to reduce capture power dissipation. It was reported that a multi-cycle BIST scheme could reduce capture power dissipation. In this paper, we propose a test generation for broad side scan testing using multi-cycle capture test generation to reduce capture power dissipation by paying our attention to this point. | |
| キーワード | （和） | 遷移故障 / 低消費電力 / マルチサイクルキャプチャテスト生成 / テスト不可能故障 / / / / |
| （英） | transition faults / low power dissipation / multi-cycle capture test generation / untestable faults / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 430, DC2013-89, pp. 61-66, 2014年2月. | |
| 資料番号 | DC2013-89 | |
| 発行日 | 2014-02-03 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2013-89 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2014-02-10 - 2014-02-10 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2014-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Low Power Consumption Oriented Test Generation Method for Transition Faults Using Multi Cycle Capture Test Generation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遷移故障 / transition faults |
| キーワード(2)（和/英） | 低消費電力 / low power dissipation |
| キーワード(3)（和/英） | マルチサイクルキャプチャテスト生成 / multi-cycle capture test generation |
| キーワード(4)（和/英） | テスト不可能故障 / untestable faults |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 川連 裕斗 / Yuto Kawatsure / カワツレ ユウト |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西間木 淳 / Jun Nishimaki / ニシマキ ジュン |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 平井 淳士 / Atsushi Hirai / ヒライ アツシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第5著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第6著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ |
| 第7著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-02-10 16:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2013-89 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.430 |
| ページ範囲 | pp.61-66 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-02-03 (DC) |
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