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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-02-10 09:00 モジュール間結合増加率に基づくスキャンチェーン接続法 ○小松 巡・岩田大志・山口賢一（奈良高専）  DC2013-79 |
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| 抄録 | （和） | 近年，半導体プロセスの微細化により，動作速度や電力消費に与える配置配線の影響が大きくなっており， テスト容易化設計時には設計変更によってレイアウトへ及ぼす影響を最小化する必要がある．特に，skewed-load 方 式による遅延故障テストや，非同期式回路に対するL1L2* スキャン設計などのテスト容易化設計では，故障検出率を 向上させるためにスキャンチェーンの接続順に制約を付与することがあり，レイアウトへ及ぼす影響が大きくなる傾 向にある．そこで本稿では，モジュール間を接続する信号線数からモジュール間の距離を算出し，算出した距離に基 づき，モジュールの独立性を抑制するスキャンチェーン構築方法を提案した．実験では，提案手法は先行研究に比べ ほぼ同じ面積増加で，モジュール間結合増加率を大幅に抑制した． |
| （英） | It is necessary to minimize the impact on the layout of the design changes to Design for Testability (DFT). Especially, the skewed-load delay fault testing and asynchronous L1L2* scan design have constraints on the connection order of scan chains in order to improve the fault coverage. Therefore, module independences are missing because of the restrictions on the connection order of the scan chain. In this paper, we propose a scan chain construction method that takes into account the independence of the module. |
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| キーワード | （和） | テスト容易化設計 / L1L2*スキャン設計 / スキャンチェーン / 2部完全スキャン設計 / モジュール間結合増加率 / / / |
| （英） | Design for Testability / L1L2* Scan Design / scan cain / bipartite full scan design / module coupling overhead / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 430, DC2013-79, pp. 1-5, 2014年2月. | |
| 資料番号 | DC2013-79 | |
| 発行日 | 2014-02-03 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2013-79 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2014-02-10 - 2014-02-10 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2014-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | モジュール間結合増加率に基づくスキャンチェーン接続法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Module Coupling Overhead Aware Scan Chain Construction |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト容易化設計 / Design for Testability |
| キーワード(2)（和/英） | L1L2*スキャン設計 / L1L2* Scan Design |
| キーワード(3)（和/英） | スキャンチェーン / scan cain |
| キーワード(4)（和/英） | 2部完全スキャン設計 / bipartite full scan design |
| キーワード(5)（和/英） | モジュール間結合増加率 / module coupling overhead |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小松 巡 / Meguru Komatsu / コマツ メグル |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良工業高等専門学校 (略称： 奈良高専) Nara National College of Technology (略称： NNCT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩田 大志 / Hiroshi Iwata / イワタ ヒロシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良工業高等専門学校 (略称： 奈良高専) Nara National College of Technology (略称： NNCT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山口 賢一 / Ken'ichi Yamaguchi / ヤマグチ ケンイチ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良工業高等専門学校 (略称： 奈良高専) Nara National College of Technology (略称： NNCT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-02-10 09:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2013-79 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.430 |
| ページ範囲 | pp.1-5 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2014-02-03 (DC) |
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