| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-03-05 10:25 寄生バイポーラ効果を考慮した多ビットソフトエラーの評価 ○古田 潤（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大）  VLD2013-157 |
|
| 抄録 | （和） | 集積回路の微細化に伴い, 放射線によって記憶素子の保持データが2つ以上同時に反転する MCU (Multiple Cell Upset)が問題となっている. 本論文ではMCUの発生原理である寄生バイポーラ効果が回路動作に与える影響を 回路シミュレーションを用いて評価する. 基板を抵抗と容量を用いてモデル化し, 放射線通過による基板電位の変動を回路 モデルに組み込むことで, 回路シミュレーションでのMCUの評価を可能とした. 65nmプロセスのフリップフロップのMCU発生率を回路シミュレーションを用いて 評価した. その結果, フリップフロップ間距離の増加に対してMCUの発生率は指 数関数的に減少することを確認した. |
| （英） | As a result of the process scaling, radiation-induced Multiple Cell Upsets (MCUs) become major issue for LSI reliability since it can flip two or more stored values on storage cells simultaneously. In this paper, we evaluate MCU rates on flip-flops from circuit-level simulation which is considering parasitic bipolar effects. For preparing the parasitic bipolar effect, the p-well structure is modeled by well-resistance meshes and junction capacitances between p-well and n-well. Simulation results show that MCU rates on 65-nm flip-flops are exponentially reduced according to the distance between flip-flops. |
|
| キーワード | （和） | ソフトエラー / 多ビットエラー / 寄生バイポーラ効果 / / / / / |
| （英） | soft error / multiple cell upset / bipolar effects / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 454, VLD2013-157, pp. 125-130, 2014年3月. | |
| 資料番号 | VLD2013-157 | |
| 発行日 | 2014-02-24 (VLD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2013-157 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
| 開催期間 | 2014-03-03 - 2014-03-05 |
| 開催地（和） | 沖縄県青年会館 |
| 開催地（英） | Okinawa Seinen Kaikan |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術 |
| テーマ（英） | Design Technology for System-on-Silicon |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2014-03-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 寄生バイポーラ効果を考慮した多ビットソフトエラーの評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of Multiple Cell Upsets Considering Parasitic Bipolar Effects |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / soft error |
| キーワード(2)（和/英） | 多ビットエラー / multiple cell upset |
| キーワード(3)（和/英） | 寄生バイポーラ効果 / bipolar effects |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 古田 潤 / Jun Furuta / フルタ ジュン |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： Kyoto Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小野寺 秀俊 / Hidetoshi Onodera / オノデラ ヒデトシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-03-05 10:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2013-157 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.454 |
| ページ範囲 | pp.125-130 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-02-24 (VLD) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]