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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-06-20 14:30 低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価 ○西田敏也（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）  DC2014-13 |
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| 抄録 | （和） | スキャンベーステストのキャプチャ時の瞬間的な電流による電圧降下は，テスト対象パスの遅延増加等をもたらし，テスト精度低下の要因となっている．マルチサイクルテストはキャプチャ動作の繰り返しにより電圧降下を低減する手法である．本研究では，マルチサイクルテストによるキャプチャ時の信号値変化量低減が実際の電圧降下の低減にどう影響するかを，低電力BIST手法を実装したTEGチップの電源電圧測定結果により示す． |
| （英） | Voltage drop by a momentary current change during capture cycles in scan-based testing brings an increase in path delay of a circuit under test, and is one of factors of test accuracy degradation. Multi-cycle test is a method that can reduce the voltage drop by repetition of the capture operation. This paper investigates how the reduction of switching activities by the multi-cycle test method reduces the actual voltage drop from observation of power supply voltage of a TEG chip implementing a low-power BIST. | |
| キーワード | （和） | BIST / スキャンテスト / マルチサイクルテスト / キャプチャ電力 / / / / |
| （英） | BIST / scan test / multi-cycle test / capture power / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 99, DC2014-13, pp. 21-26, 2014年6月. | |
| 資料番号 | DC2014-13 | |
| 発行日 | 2014-06-13 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2014-13 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2014-06-20 - 2014-06-20 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証，および一般 |
| テーマ（英） | Design/Test/Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2014-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Capture Power Evaluation for A Low Power BIST Method Using A TEG Chip |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | スキャンテスト / scan test |
| キーワード(3)（和/英） | マルチサイクルテスト / multi-cycle test |
| キーワード(4)（和/英） | キャプチャ電力 / capture power |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西田 敏也 / Toshiya Nishida / ニシダ トシヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-06-20 14:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2014-13 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.99 |
| ページ範囲 | pp.21-26 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-06-13 (DC) |
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