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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-06-20 16:25 機能的k時間展開モデルのテスト容易性評価 ○増田哲也・西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大）  DC2014-17 |
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| 抄録 | （和） | データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，機能的k時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている．機能的k時間展開モデルを用いたテスト生成法では，データパス回路に対して複数の時間展開モデルを生成し，テスト生成を行う．さらに，生成された時間展開モデルの動作を実現するために，コントローラの拡大が実行される．コントローラ拡大によるハードウェアオーバヘッドの増加を抑えるため，生成される時間展開モデル数に制約が与えられている．機能的k時間展開モデルを用いたテスト生成において，高い故障検出率を達成するためには，テスト容易性の高い時間展開モデルの生成が重要となる．従来手法では，機能的k時間展開モデルの時間展開数のみがテスト容易性の評価基準として用いられる．しかしながら，時間展開数以外にテスト容易性に影響を与える要素が考えられる．本論文では，従来手法と比較してよりテスト容易性の高い機能的k時間展開モデルの生成法を検討するために，機能的k時間展開モデルのテスト容易性の評価を行う．実験では，例題回路に対して複数の機能的k時間展開モデルを生成し，各時間展開モデルの，検出故障数，テスト生成時間を評価する． |
| （英） | A test generation method using functional k-time expansion models for data paths was proposed. In the test generation method using functional k-time expansion models, some functional k-time expansion models are generated and test sequences are generated for the models. A controller is augmented to enable the behaviors of the functional k-time expansion models to be executed. The number of generated functional k-time expansion models is given as a constraint to suppress hardware overhead by the controller augmentation. It is important to generate functional k-time expansion models with high testability to achieve high fault coverage. In the previous work, only the number of time expansion was used as a measure of testability for functional k-time expansion models. However, other elements which affect the testability are considered. In this paper, the testability of functional k-time expansion models is evaluated to clarify elements which affect to the testability. In the experiments, some functional k-time expansion models for an example circuit are generated, and the number of detected faults and the test generation time for each model are evaluated. |
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| キーワード | （和） | 非スキャンテスト / 機能的k時間展開モデル / コントローラ拡大 / 順序テスト生成 / / / / |
| （英） | non-scan testing / fuctional k-time expansion models / controller augmentation / sequential test generation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 99, DC2014-17, pp. 45-50, 2014年6月. | |
| 資料番号 | DC2014-17 | |
| 発行日 | 2014-06-13 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2014-17 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2014-06-20 - 2014-06-20 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証，および一般 |
| テーマ（英） | Design/Test/Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2014-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 機能的k時間展開モデルのテスト容易性評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An evaluation for Testability of Functional k-Time Expansion Models |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 非スキャンテスト / non-scan testing |
| キーワード(2)（和/英） | 機能的k時間展開モデル / fuctional k-time expansion models |
| キーワード(3)（和/英） | コントローラ拡大 / controller augmentation |
| キーワード(4)（和/英） | 順序テスト生成 / sequential test generation |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 増田 哲也 / Tetsuya Masuda / マスダ テツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西間木 淳 / Jun Nishimaki / ニシマキ ジュン |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 秀雄 / Hideo Fujiwara / フジワラ ヒデオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 大阪学院大学 (略称： 阪学院大) Osaka Gakuin University (略称： Osaka Gakuin Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-06-20 16:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2014-17 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.99 |
| ページ範囲 | pp.45-50 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-06-13 (DC) |
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