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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-07-31 10:45 レーザのスペクトラム純度の評価に関する考察 ～ 線幅測定と光周波数雑音スペクトラムの関係について ～ ○四方 誠・森 常雄・深尾和弘・稲垣 誠（SYCATUS）  OCS2014-28 |
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| 抄録 | （和） | 通信用レーザのスペクトラム純度の評価指標として、これまで光スペクトラム線幅が用いられてきたが、光通信方式の高度化に伴い、従来の光スペクトラム線幅測定では必要とされる特性を把握することが困難である。これに対し、光周波数雑音スペクトラムは、レーザのスペクトラム純度を詳細に解析する上で、有望な指標である。今回、光スペクトラム線幅と光周波数雑音スペクトラムの関係について、実験による検証を実施し、光周波数雑音スペクトラムによる評価の有効性について得られた結果を報告する。 |
| （英） | Optical spectrum linewidth is a basic parameter to evaluate spectrum purities of lasers for optical communications, however, conventional optical linewidth measurement method is insufficient to obtain enough characterization for advanced optical communication methods. Optical frequency noise spectrum is a promising parameter for the precise analysis of laser spectrum purities. This study reports the usefulness of the analysis by optical frequency noise spectrum through the experimental verifications of the relation between the optical spectrum linewidth and the optical frequency noise spectrum. | |
| キーワード | （和） | 光周波数雑音 / 線幅 / 半導体レーザ / デジタルコヒーレント / / / / |
| （英） | Optical Frequency Noise / Linewidth / Semiconductor Laser / Digital Coherent / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 167, OCS2014-28, pp. 15-20, 2014年7月. | |
| 資料番号 | OCS2014-28 | |
| 発行日 | 2014-07-24 (OCS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | OCS2014-28 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OCS |
| 開催期間 | 2014-07-31 - 2014-07-31 |
| 開催地（和） | 東京工業大学 大岡山キャンパス 蔵前会館 |
| 開催地（英） | Tokyo Institute of Technology |
| テーマ（和） | 光中継装置，光クロスコネクト(OXC)，光分岐挿入多重 (OADM)，光送受信機・光端局装置，光通信用ディジタル信号処理，誤り訂正，光多重・分離装置，光通信計測，コア・メトロシステム，海底伝送システム，光アクセスシステム・次世代PON，イーサネット，光伝達網 (OTN)，高速インタフェース，伝送監視制御，光伝送システム設計・ツール，一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | OCS |
| 会議コード | 2014-07-OCS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | レーザのスペクトラム純度の評価に関する考察 |
| サブタイトル（和） | 線幅測定と光周波数雑音スペクトラムの関係について |
| タイトル（英） | A study on measurement of laser spectrum purities |
| サブタイトル（英） | relations between linewidth measurement and optical frequency noise spectrum |
| キーワード(1)（和/英） | 光周波数雑音 / Optical Frequency Noise |
| キーワード(2)（和/英） | 線幅 / Linewidth |
| キーワード(3)（和/英） | 半導体レーザ / Semiconductor Laser |
| キーワード(4)（和/英） | デジタルコヒーレント / Digital Coherent |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 四方 誠 / Makoto Shikata / シカタ マコト |
| 第1著者 所属（和/英） | SYCATUS株式会社 (略称： SYCATUS) SYCATUS Corporation (略称： SYCATUS) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森 常雄 / Tsuneo Mori / モリ ツネオ |
| 第2著者 所属（和/英） | SYCATUS株式会社 (略称： SYCATUS) SYCATUS Corporation (略称： SYCATUS) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 深尾 和弘 / Kazuhiro Fukao / フカオ カズヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | SYCATUS株式会社 (略称： SYCATUS) SYCATUS Corporation (略称： SYCATUS) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 稲垣 誠 / Makoto Inagaki / イナガキ マコト |
| 第4著者 所属（和/英） | SYCATUS株式会社 (略称： SYCATUS) SYCATUS Corporation (略称： SYCATUS) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-07-31 10:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | OCS |
| 資料番号 | OCS2014-28 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.167 |
| ページ範囲 | pp.15-20 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-07-24 (OCS) |
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