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講演抄録/キーワード
講演名 2014-08-21 11:15
シリコン酸化膜上の横注入DFBレーザ
松尾慎治藤井拓郎長谷部浩一武田浩司佐藤具就硴塚孝明NTTR2014-25 EMD2014-30 CPM2014-45 OPE2014-55 LQE2014-29 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2014-30 CPM2014-45 OPE2014-55 LQE2014-29
抄録 (和) 埋込みヘテロ構造と上下を低屈折率材料で挟まれた二次元薄膜構造(メンブレン構造)を持つ半導体レーザは、効率的なキャリアと光の閉じ込めにより低バイアス電流で高速な直接変調の実現が期待される。このため、データコムやコンピュータコムのような直接変調レーザに低消費エネルギー動作が求められる用途に適している。このような背景から、我々はデータコムに向けてシリコン熱酸化膜上の短共振器DFBレーザの検討を行っている。将来的にシリコン基板を用いた大口径プロセスを適用するため直接接合を用いてIII-V族活性層薄膜を熱酸化膜付シリコン基板に接合した後にInP層による埋め込みを行った。作製したDFBレーザはしきい値電流1.8 mAで室温連続発振することを確認した。また、直接変調動作においては、バイアス電流8 mAで25.8-Gbit/s NRZ信号の明瞭なアイ開口を確認した。 
(英) Membrane lasers with buried heterostructure are expected to obtain extremely small operating energy because of the enhancement of optical and carrier confinements. Therefore, these lasers are suitable for use the light sources in datacom and computercom applications. In this context, we have developed DFB laser on SiO2/Si substrate for datacom application by combining direct bonding and regrowth techniques. The DFB laser exhibits a threshold current of 1.8 mA and clear eye-opening with 25.8-Gbit/s NRZ signal when the bias current is 8.0 mA.
キーワード (和) DFBレーザ / オンシリコンレーザ / 横型pin接合 / / / / /  
(英) DFB laser / laser on Si / lateral pin junction / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 187, LQE2014-29, pp. 13-16, 2014年8月.
資料番号 LQE2014-29 
発行日 2014-08-14 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2014-25 EMD2014-30 CPM2014-45 OPE2014-55 LQE2014-29 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2014-30 CPM2014-45 OPE2014-55 LQE2014-29

研究会情報
研究会 EMD LQE OPE CPM R  
開催期間 2014-08-21 - 2014-08-22 
開催地(和) 小樽経済センター 
開催地(英) Otaru Economy Center 
テーマ(和) 光部品・電子デバイス実装技術・信頼性、及び一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 LQE 
会議コード 2014-08-EMD-LQE-OPE-CPM-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) シリコン酸化膜上の横注入DFBレーザ 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Lateral current injection DFB laser on Si/SiO2 substrate 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) DFBレーザ / DFB laser  
キーワード(2)(和/英) オンシリコンレーザ / laser on Si  
キーワード(3)(和/英) 横型pin接合 / lateral pin junction  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 松尾 慎治 / Shinji Matsuo / マツオ シンジ
第1著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤井 拓郎 / Takuro Fujii / フジイ タクロウ
第2著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 長谷部 浩一 / Koichi Hasebe / ハセベ コウイチ
第3著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 武田 浩司 / Koji Takeda / タケダ コウジ
第4著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 具就 / Tomonari Sato / サトウ トモナリ
第5著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 硴塚 孝明 / Takaaki Kakitsuka / カキツカ タカアキ
第6著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2014-08-21 11:15:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 LQE 
資料番号 R2014-25, EMD2014-30, CPM2014-45, OPE2014-55, LQE2014-29 
巻番号(vol) vol.114 
号番号(no) no.183(R), no.184(EMD), no.185(CPM), no.186(OPE), no.187(LQE) 
ページ範囲 pp.13-16 
ページ数
発行日 2014-08-14 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) 


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