| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2014-10-17 11:10
MOCVD法によるGeおよびGe1-xSnxのエピタキシャル成長 ○須田耕平・石原聖也・木嶋隆浩・澤本直美(明大)・町田英明・石川真人・須藤 弘(気相成長)・大下祥雄(豊田工大)・小椋厚志(明大) SDM2014-91 |
| 抄録 |
(和) |
GeおよびGe1-xSnxは、高移動度トランジスタ、IV族光デバイス等への応用が期待されている。
我々は、t-C4H9GeH3と(C2H5)4Snとを用いたMOCVD法によるGeおよびGe1-xSnxのエピタキシャル成長を行った。
用いたMO原料はGeH4やSnH4と比べ発火性や爆発性などの点で非常に安全であり、本手法が確立した際には成膜プロセスの安全性は飛躍的に向上すると考える。
本報告では、基板温度等の各種成長条件におけるエピタキシャル膜の評価を行う。 |
| (英) |
Ge and Ge1-xSnx are attractive materials for the next-generation transistors and optical devices.
We achieved to grow Ge and Ge1-xSnx epitaxial films on Ge(001) substrates by metal-organic chemical vapor deposition (MOCVD) using tertiary-butyl-germane (t-C4H9GeH3) and tetraethyl-tin [(C2H5)4Sn].
These precursors are much safer than GeH4 and SnH4.
Thus, we believe that our techniques improve the safety in the deposition process.
In this paper, we investigated Ge and Ge1-xSnx epitaxial films grown in the various deposition conditions. |
| キーワード |
(和) |
Ge / GeSn / Ge1-xSnx / MOCVD / MOVPE / / / |
| (英) |
Ge / GeSn / Ge1-xSnx / MOCVD / MOVPE / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 114, no. 255, SDM2014-91, pp. 41-45, 2014年10月. |
| 資料番号 |
SDM2014-91 |
| 発行日 |
2014-10-09 (SDM) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
SDM2014-91 |