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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-10-17 16:20 アレニウスモデル下での寿命予測最適試験法 ○田淵直樹・廣瀬英雄（九工大）  R2014-60 |
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| 抄録 | （和） | 製品の寿命を測定する場合，実際に使用する条件下では 故障までに長時間かかるため，試験時間を短縮させる目的で実使用 時に比べて厳しいストレスを加え，製品の劣化を加速させる加速劣化試験により実使用での寿命予測を行っている． ここでは，温度劣化試験において，アレニウス則の下での寿命の確率分布を3つ仮定し，指定された温度での試験片の最適配分を求めるシミュレーションを行った． 確率分布には，正規分布，一般化ロジスティック分布，一般化パレート分布を考えた． いくつかの素子の最小値で寿命が決まるような分布は極値分布に従うため，その一つであるワイブル分布でのパラメータ推定を行った． |
| （英） | In observing the actual lifetime of electric products, accelerated life tests are often used to save testing time and cost. In this paper, we search for the optimum life test plans of electrical insulation for thermal stress via the simulation study assuming that the Arrhenius law holds between the thermal stress and the lifetime and that the lifetime probability distribution follows a normal, a generalized logistic, and generalized Pareto distributions. In considering the weakest link situation consisting of many elements, we deal with the Weibull probability distribution. The variance of the estimate for the lifetime at the temperature of use depends on the underlying probability distribution. |
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| キーワード | （和） | accelerated lifetime test / thermal deterioration / Arrhenius law / generalized Pareto distribution / generalized logistic distribution / normal distribution / maximum likelihood estimation methodmaximum likelihood estimation method / extreme-value distribution |
| （英） | accelerated lifetime test / thermal deterioration / Arrhenius law / generalized Pareto distribution / generalized logistic distribution / normal distribution / maximum likelihood estimation method / extreme-value distribution | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 256, R2014-60, pp. 31-36, 2014年10月. | |
| 資料番号 | R2014-60 | |
| 発行日 | 2014-10-10 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2014-60 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2014-10-17 - 2014-10-17 |
| 開催地（和） | 第一工業大学 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 信頼性一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2014-10-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | アレニウスモデル下での寿命予測最適試験法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Optimum Lifetime Prediction Testing under the Arrhenius Law |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | accelerated lifetime test / accelerated lifetime test |
| キーワード(2)（和/英） | thermal deterioration / thermal deterioration |
| キーワード(3)（和/英） | Arrhenius law / Arrhenius law |
| キーワード(4)（和/英） | generalized Pareto distribution / generalized Pareto distribution |
| キーワード(5)（和/英） | generalized logistic distribution / generalized logistic distribution |
| キーワード(6)（和/英） | normal distribution / normal distribution |
| キーワード(7)（和/英） | maximum likelihood estimation methodmaximum likelihood estimation method / maximum likelihood estimation method |
| キーワード(8)（和/英） | extreme-value distribution / extreme-value distribution |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田淵 直樹 / Naoki Tabuchi / タブチ ナオキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 廣瀬 英雄 / Hideo Hirose / ヒロセ ヒデオ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-10-17 16:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2014-60 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.256 |
| ページ範囲 | pp.31-36 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-10-10 (R) |
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