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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-11-14 15:15 ウエアラブル機器へのESDイミュニティ試験の検討 ○石田武志（ノイズ研/電通大）・肖 鳳超・上 芳夫・藤原 修・仁田周一（電通大）  EMCJ2014-72 |
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| 抄録 | （和） | 電子機器の静電気放電（ESD: Electrostatic discharge）イミュニティ試験は，国際規格でその試験器仕様，試験方法が定められている．これらは帯電した人体が設置されている電子機器に触れる行為によって発生するESDを想定している．近年，急速に普及しているウエアラブル機器は，人体に装着して使用されるため，帯電や放電のたびに機器の電位は変動し，過渡的な電磁界にさらされるが，この状況を想定した同機器のESDイミュニティ試験法は確立されていない．本稿では，帯電人体に装着されたウエアラブル機器が金属物体に近づいた場合を最も厳しい条件と想定し，手にした金属棒と頭，腰，上腕の各部位に装着した半球金属体からの気中放電に伴う放電電流を測定した．その結果，1 kVに人体を充電したとき，半球金属体からの電流ピークは，腰部(15.4 A)，上腕部(12.8A)，頭部(12.2A)の順に高く，手にした金属棒の場合(10.0 A)が最も低かったこと，半球金属体からの放電波形はいずれの装着部位でも50 nsで減衰しているのに対して，金属棒からの放電は90 ns以上も継続していること，などがわかった．これらの結果は，ウエアラブル機器に対するESDイミュニティ試験には，これまでの試験とは異なる試験器の仕様，試験方法の検討の必要性を示唆する． |
| （英） | The electrostatic discharge (ESD) immunity test for electronic equipment is specified in the international standard IEC 61000-4-2 in which the specifications of test equipment and test methods are described. This test is assumed to simulate the ESD event that occurs when a charged human body touches electronic equipment. Wearable electronic equipment, which is spread rapidly in recent years, is used on attachment to a human. Accordingly, the electric potential of the wearable equipment rapidly changes every time the human is electrically charged or discharged, which results in that the equipment is exposed to the transient electromagnetic fields. ESD immunity testing assumed for this situation is not yet developed. In this study, under the assumption that the worst case is an ESD event occurring when the body mounted wearable equipment approaches a metal object, we measured discharge currents due to air discharges from a hand-held metal bar and hemi-sphere metal object attached to the head, arm and waist. As a result, we found that at a human charge voltage of 1 kV, the peak current from the hemi-sphere metal is large in order of the attachment of the waist (15.4 A), arm (12.8 A) and head (12.2 A), whereas the peak current (10.0 A) from the hand-held metal bar is the smallest. It was also found that the discharge currents from the hemi-sphere metal decrease at around 50 ns regardless of the attachment regions, however, the current from the metal bar continues to flow at over 90 ns. This suggests that ESD immunity testing for wearable equipment needs to investigate different specifications of the test equipment and test method from the conventional testing. | |
| キーワード | （和） | ウエアラブル機器 / 人体装着 / ESDイミュニティ試験 / 気中放電 / 放電電流 / / / |
| （英） | Wearable equipment / human attachment / ESD immunity testing / air discharge / discharge current / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 304, EMCJ2014-72, pp. 31-35, 2014年11月. | |
| 資料番号 | EMCJ2014-72 | |
| 発行日 | 2014-11-07 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2014-72 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ PEM |
| 開催期間 | 2014-11-14 - 2014-11-14 |
| 開催地（和） | 産総研 臨海副都心センター |
| 開催地（英） | AIST Tokyo Waterfront |
| テーマ（和） | 光応用電磁界計測，EMC一般 |
| テーマ（英） | Photonics-applied Electromagnetic Measurement, EMC, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2014-11-EMCJ-PEM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ウエアラブル機器へのESDイミュニティ試験の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study of Electrostatic Discharge Immunity Testing for Wearable Equipment |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ウエアラブル機器 / Wearable equipment |
| キーワード(2)（和/英） | 人体装着 / human attachment |
| キーワード(3)（和/英） | ESDイミュニティ試験 / ESD immunity testing |
| キーワード(4)（和/英） | 気中放電 / air discharge |
| キーワード(5)（和/英） | 放電電流 / discharge current |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 石田 武志 / Takeshi Ishida / |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社ノイズ研究所/電気通信大学 (略称： ノイズ研/電通大) Noise Laboratory Co.,LTD/University of Electro-communications (略称： Noiseken/UEC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 肖 鳳超 / Fengchao Xiao / Fengchao Xiao |
| 第2著者 所属（和/英） | 電気通信大学 (略称： 電通大) University of Electro-communications (略称： UEC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 上 芳夫 / Yoshio Kami / カミ ヨシオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 電気通信大学 (略称： 電通大) University of Electro-communications (略称： UEC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 修 / Osamu Fujiwara / フジワラ オサム |
| 第4著者 所属（和/英） | 電気通信大学 (略称： 電通大) University of Electro-communications (略称： UEC) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 仁田 周一 / Shuichi Nitta / ニッタ シュウイチ |
| 第5著者 所属（和/英） | 電気通信大学 (略称： 電通大) University of Electro-communications (略称： UEC) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-11-14 15:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2014-72 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.304 |
| ページ範囲 | pp.31-35 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2014-11-07 (EMCJ) |
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