講演抄録/キーワード |
講演名 |
2014-12-02 15:40
電流ミスマッチを利用した自動ID生成回路の出力IDユニーク性評価 ○松永賢一・大嶋尚一(NTT)・美濃谷直志(NTTテレコン)・近藤利彦・森村浩季(NTT) ICD2014-108 CPSY2014-120 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2014-108 |
抄録 |
(和) |
本論文では, プロセスばらつきを利用した自動ID生成回路を提案する. 開発したID生成回路はNMOSペアにおける電流ミスマッチを利用してそのIDを決定する. 本研究では, その出力の1/0の出現確率のユニーク性及びプロセス依存性を検証するため, 2つの0.18-$mu$m CMOSスタンダードプロセスにおいて試作を行った. 本論文では, 試作された382チップの測定を行い, そのチップ間でハミング距離を算出した. 結果として, チップ間ハミング距離の分布は理論的に得られる二項分布に非常によく従うことが確認され, プロセスに依存しないID生成回路となっていることが確認された. |
(英) |
This paper presents a low-power and uniquely-distributed ID-generation circuit using process variation. Developed circuit utilizes current mismatch in NMOS pair for unique ID output. In order to evaluate the output 1/0 probability-uniformity and process dependence, the prototype was fabricated in two different 0.18-$mu$m standard CMOS technology. 382 chips were tested and the hamming distances between each chip were calculated. The result shows the circuit architecture generates unique and process-independent ID. Furthermore, the bit-generation efficiency was found to be 0.96 pJ/bit. |
キーワード |
(和) |
ID生成 / ミスマッチ / ハミング距離 / ユニーク性 / 二項分布 / PUF / / |
(英) |
ID generation / Mismatch / Hamming distance / Uniqueness / Binominal distribution / PUF / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 114, no. 345, ICD2014-108, pp. 135-139, 2014年12月. |
資料番号 |
ICD2014-108 |
発行日 |
2014-11-24 (ICD, CPSY) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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