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講演抄録/キーワード
講演名 2015-01-27 16:45
[招待講演]Si CMOSプラットフォームにおけるp-n相補型トンネルFinFETの急峻サブスレッショルド・スイングおよび超低オフ電流の実証
森田行則森 貴洋福田浩一水林 亘右田真司松川 貴遠藤和彦大内真一柳 永勛昌原明植太田裕之産総研SDM2014-146 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2014-146
抄録 (和) FinFET型チャネルを持つトンネル電界効果トランジスタ(トンネルFinFET)をSi CMOSプラットフォームにおいて形成し,p型およびn型の両者において60 mV/decadeを下回るサブスレッショッルド・スイングの値とpA/µm以下の低オフ電流を実証した.高濃度にヒ素及びボロンをドープしたSiのソース上に,エピタキシャル成長を用いてトンネル接合を形成する際の前処理を最適化し,界面欠陥を排除することで高性能化を実現した 
(英) Complementary (p- and n-type) tunnel FinFETs operating with subthreshold slopes (SSs) of less than 60 mV/decade and very low off-currents (on the order of a few pA/µm) have been experimentally realized on the Si CMOS platform. Improvements in the SSs have been realized by optimizing epitaxial channel growth on heavily arsenic- and boron-doped source surfaces for purging interface defects at the epitaxial tunnel junctions.
キーワード (和) トンネルFET / TFET / FinFET / トンネルFinFET / エピタキシャル成長 / スティープスロープ / /  
(英) Tunnel FET / TFET / FinFET / Tunnel FinFET / Epitaxial growth / Steep-slope / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 421, SDM2014-146, pp. 45-48, 2015年1月.
資料番号 SDM2014-146 
発行日 2015-01-20 (SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2014-146 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2014-146

研究会情報
研究会 SDM  
開催期間 2015-01-27 - 2015-01-27 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 先端CMOSデバイス・ プロセス技術(IEDM特集) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2015-01-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) Si CMOSプラットフォームにおけるp-n相補型トンネルFinFETの急峻サブスレッショルド・スイングおよび超低オフ電流の実証 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Experimental Realization of Complementary p- and n- Tunnel FinFETs with Subthreshold Slopes of Less than 60 mV/decade and Very Low (pA/um) Off-Current on a Si CMOS Platform 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) トンネルFET / Tunnel FET  
キーワード(2)(和/英) TFET / TFET  
キーワード(3)(和/英) FinFET / FinFET  
キーワード(4)(和/英) トンネルFinFET / Tunnel FinFET  
キーワード(5)(和/英) エピタキシャル成長 / Epitaxial growth  
キーワード(6)(和/英) スティープスロープ / Steep-slope  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 森田 行則 / Yukinori Morita /
第1著者 所属(和/英) 産業総合技術研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 森 貴洋 / Takahiro Mori /
第2著者 所属(和/英) 産業総合技術研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 福田 浩一 / Koichi Fukuda /
第3著者 所属(和/英) 産業総合技術研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 水林 亘 / Wataru Mizubayashi /
第4著者 所属(和/英) 産業総合技術研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 右田 真司 / Shinji Migita /
第5著者 所属(和/英) 産業総合技術研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 松川 貴 / Takashi Matsukawa /
第6著者 所属(和/英) 産業総合技術研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 遠藤 和彦 / Kazuhiko Endo /
第7著者 所属(和/英) 産業総合技術研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 大内 真一 / Shinichi O'uchi /
第8著者 所属(和/英) 産業総合技術研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳 永勛 / Yongxun Liu /
第9著者 所属(和/英) 産業総合技術研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 昌原 明植 / Meishoku Masahara /
第10著者 所属(和/英) 産業総合技術研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) 太田 裕之 / Hiroyuki Ota /
第11著者 所属(和/英) 産業総合技術研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2015-01-27 16:45:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2014-146 
巻番号(vol) vol.114 
号番号(no) no.421 
ページ範囲 pp.45-48 
ページ数
発行日 2015-01-20 (SDM) 


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