講演抄録/キーワード |
講演名 |
2015-01-27 16:45
[招待講演]Si CMOSプラットフォームにおけるp-n相補型トンネルFinFETの急峻サブスレッショルド・スイングおよび超低オフ電流の実証 ○森田行則・森 貴洋・福田浩一・水林 亘・右田真司・松川 貴・遠藤和彦・大内真一・柳 永勛・昌原明植・太田裕之(産総研) SDM2014-146 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2014-146 |
抄録 |
(和) |
FinFET型チャネルを持つトンネル電界効果トランジスタ(トンネルFinFET)をSi CMOSプラットフォームにおいて形成し,p型およびn型の両者において60 mV/decadeを下回るサブスレッショッルド・スイングの値とpA/µm以下の低オフ電流を実証した.高濃度にヒ素及びボロンをドープしたSiのソース上に,エピタキシャル成長を用いてトンネル接合を形成する際の前処理を最適化し,界面欠陥を排除することで高性能化を実現した |
(英) |
Complementary (p- and n-type) tunnel FinFETs operating with subthreshold slopes (SSs) of less than 60 mV/decade and very low off-currents (on the order of a few pA/µm) have been experimentally realized on the Si CMOS platform. Improvements in the SSs have been realized by optimizing epitaxial channel growth on heavily arsenic- and boron-doped source surfaces for purging interface defects at the epitaxial tunnel junctions. |
キーワード |
(和) |
トンネルFET / TFET / FinFET / トンネルFinFET / エピタキシャル成長 / スティープスロープ / / |
(英) |
Tunnel FET / TFET / FinFET / Tunnel FinFET / Epitaxial growth / Steep-slope / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 114, no. 421, SDM2014-146, pp. 45-48, 2015年1月. |
資料番号 |
SDM2014-146 |
発行日 |
2015-01-20 (SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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