お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2015-02-13 15:20
階層BIST向けLFSRシード生成法
佐脇光亮大竹哲史大分大DC2014-85
抄録 (和) 組込み自己テスト(BIST)で用いるテストパターン生成器の一つに線形フィードバックレジスタ(LFSR)がある.
LFSRから出力された疑似ランダムパターンをテストパターンとしてテスト対象回路に印加するが,ランダムパターン耐性故障(RPRF)に対しては,LFSRの初期値(シード)を交換するリシード手法が用いられる.
一般にリシードには,新たに故障を検出するパターンに展開されるシードを用いる.
これまでに著者らの研究グループでは,スキャンBIST向けのシード生成モデルを用いた1パスシード生成法を提案した.
本論文ではこの手法を応用し,レジスタ転送レベル(RTL)情報を用いた階層BISTに対するシード生成法を提案する.
提案法では,回路要素までの順序深度に基づいてLFSRを時間展開したXORネットワークを用いてシード生成モデルを構成する.
提案法は,BIST環境での故障の検出可能性を判定可能で,検出可能故障に対しては,展開されたテストパターンがそれを検出するシードの生成を保証する.
RTLベンチマーク回路に対する実験では,提案法により,RPRFに対するシードを生成でき,リシードにより故障検出率を向上できることを示す. 
(英) A linear feedback shift register (LFSR) is used as a test pattern generator of built-in self-test (BIST).
In BIST, although pseudo-random patterns generated by the LFSR are applied to a circuit under test (CUT) as test patterns, reseeding, which replaces the seed of the LFSR, is used to detect random pattern resistant faults (RPRFs).
In general, a seed that when expanded by the LFSR will produce a test pattern for an RPRF is used for reseeding.
So far, we have proposed a one-pass seed generation method for generating such a seed for scan based BIST.
In this paper, we employ the concept of the one-pass seed generation for hierarchical BIST methods utilizing register-transfer level (RTL) information.
The proposed method can identify untestable faults under the BIST environment and guarantees to generate seeds for detectable faults.
In our experiments for several RTL benchmark circuits, we show that fault coverage can be improved by using the generated seeds for RPRFs of the circuits.
キーワード (和) BIST / LFSR / シード生成 / 時間展開モデル / 遅延故障 / 階層BIST / /  
(英) BIST / LFSR / seed generation / time expansion model / delay faults / hierarchical BIST / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 446, DC2014-85, pp. 43-48, 2015年2月.
資料番号 DC2014-85 
発行日 2015-02-06 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2014-85

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2015-02-13 - 2015-02-13 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2015-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 階層BIST向けLFSRシード生成法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Method of LFSR Seed Generation for Hierarchical BIST 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) BIST / BIST  
キーワード(2)(和/英) LFSR / LFSR  
キーワード(3)(和/英) シード生成 / seed generation  
キーワード(4)(和/英) 時間展開モデル / time expansion model  
キーワード(5)(和/英) 遅延故障 / delay faults  
キーワード(6)(和/英) 階層BIST / hierarchical BIST  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐脇 光亮 / Kosuke Sawaki / サワキ コウスケ
第1著者 所属(和/英) 大分大学 (略称: 大分大)
Oita University (略称: Oita Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake / オオタケ サトシ
第2著者 所属(和/英) 大分大学 (略称: 大分大)
Oita University (略称: Oita Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第3著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2015-02-13 15:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2014-85 
巻番号(vol) vol.114 
号番号(no) no.446 
ページ範囲 pp.43-48 
ページ数
発行日 2015-02-06 (DC) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会